Difratometria de raios-x de cristal duplo: teoria e construção - aplicação ao estudo de defeitos em silicio (1981)
- Authors:
- Autor USP: BRITO FILHO, BRASILIO CAMARGO DE - IF
- Unidade: IF
- Sigla do Departamento: FEP
- Assunto: CRISTAIS LÍQUIDOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Data da defesa: 15.06.1981
-
ABNT
BRITO FILHO, Brasilio Camargo de. Difratometria de raios-x de cristal duplo: teoria e construção - aplicação ao estudo de defeitos em silicio. 1981. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1981. . Acesso em: 04 jun. 2024. -
APA
Brito Filho, B. C. de. (1981). Difratometria de raios-x de cristal duplo: teoria e construção - aplicação ao estudo de defeitos em silicio (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Brito Filho BC de. Difratometria de raios-x de cristal duplo: teoria e construção - aplicação ao estudo de defeitos em silicio. 1981 ;[citado 2024 jun. 04 ] -
Vancouver
Brito Filho BC de. Difratometria de raios-x de cristal duplo: teoria e construção - aplicação ao estudo de defeitos em silicio. 1981 ;[citado 2024 jun. 04 ] - Avaliação das alterações transversais mandibulares em paciente tratado com expansão da região média da sínfese por meio da distração osteogênica
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