Electron diffraction analysis of the structure of 'SI''O IND.2' gel-film (1990)
- Authors:
- Autor USP: AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: FÍSICA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Materials Research Society
- Publisher place: Pittsburgh
- Date published: 1990
- Source:
- Título do periódico: Program and Abstracts
- Conference titles: Spring Meeting of the Materials Research Society
-
ABNT
OHSAKI, H e AEGERTER, M A. Electron diffraction analysis of the structure of 'SI''O IND.2' gel-film. 1990, Anais.. Pittsburgh: Materials Research Society, 1990. . Acesso em: 28 maio 2024. -
APA
Ohsaki, H., & Aegerter, M. A. (1990). Electron diffraction analysis of the structure of 'SI''O IND.2' gel-film. In Program and Abstracts. Pittsburgh: Materials Research Society. -
NLM
Ohsaki H, Aegerter MA. Electron diffraction analysis of the structure of 'SI''O IND.2' gel-film. Program and Abstracts. 1990 ;[citado 2024 maio 28 ] -
Vancouver
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