Structural analysis of 'SI''O IND.2' gel films by high energy electron difraction (1994)
- Authors:
- Autor USP: AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: FÍSICA
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Journal of Sol-Gel Science and Technology
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.2 , p.245-9, 1994
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ABNT
OHSAKI, H et al. Structural analysis of 'SI''O IND.2' gel films by high energy electron difraction. Journal of Sol-Gel Science and Technology, v. 2 , p. 245-9, 1994Tradução . . Acesso em: 27 maio 2024. -
APA
Ohsaki, H., Miura, K., Imai, A., Tada, M., & Aegerter, M. A. (1994). Structural analysis of 'SI''O IND.2' gel films by high energy electron difraction. Journal of Sol-Gel Science and Technology, 2 , 245-9. -
NLM
Ohsaki H, Miura K, Imai A, Tada M, Aegerter MA. Structural analysis of 'SI''O IND.2' gel films by high energy electron difraction. Journal of Sol-Gel Science and Technology. 1994 ;2 245-9.[citado 2024 maio 27 ] -
Vancouver
Ohsaki H, Miura K, Imai A, Tada M, Aegerter MA. Structural analysis of 'SI''O IND.2' gel films by high energy electron difraction. Journal of Sol-Gel Science and Technology. 1994 ;2 245-9.[citado 2024 maio 27 ] - Estrutura fractal de precursores de vidros e cerâmicas
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