Precise method to determine the stress current to be applied to electromigration test structures (1996)
- Authors:
- USP affiliated authors: VERDONCK, PATRICK BERNARD - EP ; TORRES, LUIZ CARLOS MOLINA - EP
- Unidade: EP
- DOI: 10.1016/s0038-1101(96)00077-9
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Solid State Electronics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.39, n.12, p.1805-7, dec. 1996
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
TORRES, L C M e VERDONCK, Patrick Bernard. Precise method to determine the stress current to be applied to electromigration test structures. Solid State Electronics, v. 39, n. 12, p. 1805-7, 1996Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0038-1101(96)00077-9. Acesso em: 29 maio 2024. -
APA
Torres, L. C. M., & Verdonck, P. B. (1996). Precise method to determine the stress current to be applied to electromigration test structures. Solid State Electronics, 39( 12), 1805-7. doi:10.1016/s0038-1101(96)00077-9 -
NLM
Torres LCM, Verdonck PB. Precise method to determine the stress current to be applied to electromigration test structures [Internet]. Solid State Electronics. 1996 ;39( 12): 1805-7.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0038-1101(96)00077-9 -
Vancouver
Torres LCM, Verdonck PB. Precise method to determine the stress current to be applied to electromigration test structures [Internet]. Solid State Electronics. 1996 ;39( 12): 1805-7.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0038-1101(96)00077-9 - Controle inteligente de motores
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Informações sobre o DOI: 10.1016/s0038-1101(96)00077-9 (Fonte: oaDOI API)
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