Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon (1997)
- Authors:
- USP affiliated authors: PORTO, ARTHUR JOSE VIEIRA - EESC ; DUDUCH, JAIME GILBERTO - EESC
- Unidade: EESC
- Assunto: MATERIAIS NÃO METÁLICOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Acta Microscópica
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 6, suppl. A, p. 92-93, 1997
- Conference titles: Meeting of the Brazilian Society for Electron Microscopy
-
ABNT
JASINEVICIUS, R G e PORTO, Arthur José Vieira e DUDUCH, Jaime Gilberto. Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon. Acta Microscópica. Brasília: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 21 maio 2024. , 1997 -
APA
Jasinevicius, R. G., Porto, A. J. V., & Duduch, J. G. (1997). Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon. Acta Microscópica. Brasília: Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo. -
NLM
Jasinevicius RG, Porto AJV, Duduch JG. Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon. Acta Microscópica. 1997 ; 6 92-93.[citado 2024 maio 21 ] -
Vancouver
Jasinevicius RG, Porto AJV, Duduch JG. Chip morphology in ductile-regime diamond turning of single crystal silicon. Acta Microscópica. 1997 ; 6 92-93.[citado 2024 maio 21 ] - Otimização do processo de usinagem de materiais frágeis com ferramenta de ponta única de diamante
- Ultra-precision manufacturing technology and the mechanical and opto-electro nic industry
- Avaliação do desempenho de um sistema de posicionamento angular
- Raman characterization of structural disorder and residual strains in micromachined 'GA''AS'
- Desenvolvimento de um dispositivo empregando usinagem de ultraprecisão para correção dimensional de peças anesféricas
- Chip topography and morphology of diamond turned 'AL'-'MG' alloy for mirrors
- Influencia del numero de pasadas en la calidad de las superficies opticas reflexivas
- Ductile and brittle modes in single-point-diamond-turning of silicon probed by Raman scattering
- Reconhecimento de imagens aplicado a sistemas de posicionamento de alta precisão
- Dispositivo para correção dimensional de peças anesféricas
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas