Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM) (1998)
- Authors:
- USP affiliated authors: BASMAJI, PIERRE - IFSC ; MAREGA JUNIOR, EUCLYDES - IFSC
- Unidade: IFSC
- Subjects: MATÉRIA CONDENSADA; SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Universidade Federal de São Carlos
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 1998
- Conference titles: Simpósio sobre Ciência e Engenharia de Materiais no Mercosul
-
ABNT
RODRIGUES, Sergio Gasques et al. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998, Anais.. São Carlos: Universidade Federal de São Carlos, 1998. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Rodrigues, S. G., Petitprez, E., Gonzales-Borrero, P. P., Basmaji, P., & Marega Júnior, E. (1998). Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). In . São Carlos: Universidade Federal de São Carlos. -
NLM
Rodrigues SG, Petitprez E, Gonzales-Borrero PP, Basmaji P, Marega Júnior E. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Rodrigues SG, Petitprez E, Gonzales-Borrero PP, Basmaji P, Marega Júnior E. Caracterização de nanoestruturas semicondutoras através de Técnica de Microscopia por Força Atômica (AFM). 1998 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Surface kinetics effects at the mbe growth of iii-v compounds
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