Análise microestrutural de eletrodos óxidos cerâmicos contendo ir+Sn por difração de raio-X: estudo em função da composição da camada de óxido (1998)
- Authors:
- Autor USP: BOODTS, JULIEN FRANCOISE COLETA - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Assunto: ELETROQUÍMICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Quimica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1998
- Source:
- Título do periódico: Livro de Resumos
- Conference titles: Reunião Anual da Sociedade Brasileira de Quimica
-
ABNT
LASSALI, Tânia Aparecida Farias e BOODTS, Julien Françoise Coleta e BULHÕES, Luís Otávio de Sousa. Análise microestrutural de eletrodos óxidos cerâmicos contendo ir+Sn por difração de raio-X: estudo em função da composição da camada de óxido. 1998, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Quimica, 1998. . Acesso em: 03 maio 2024. -
APA
Lassali, T. A. F., Boodts, J. F. C., & Bulhões, L. O. de S. (1998). Análise microestrutural de eletrodos óxidos cerâmicos contendo ir+Sn por difração de raio-X: estudo em função da composição da camada de óxido. In Livro de Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Quimica. -
NLM
Lassali TAF, Boodts JFC, Bulhões LO de S. Análise microestrutural de eletrodos óxidos cerâmicos contendo ir+Sn por difração de raio-X: estudo em função da composição da camada de óxido. Livro de Resumos. 1998 ;[citado 2024 maio 03 ] -
Vancouver
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