Estudo de filmes finos polimericos usando caracterização paramétrica de imagens obtidas pela técnica de Microscopia de Força Atômica (2000)
- Authors:
- USP affiliated authors: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC ; FARIA, ROBERTO MENDONCA - IFSC
- Unidade: IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: CETEPE
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2000
- Source:
- Título do periódico: Programa e resumos
- Conference titles: Simpósio Interunidades em Ciência e Engenharia de Materiais - SICEM
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ABNT
SILVA, Marcelo de Assumpção Pereira da e FARIA, Roberto Mendonça. Estudo de filmes finos polimericos usando caracterização paramétrica de imagens obtidas pela técnica de Microscopia de Força Atômica. 2000, Anais.. São Carlos: CETEPE, 2000. . Acesso em: 16 abr. 2024. -
APA
Silva, M. de A. P. da, & Faria, R. M. (2000). Estudo de filmes finos polimericos usando caracterização paramétrica de imagens obtidas pela técnica de Microscopia de Força Atômica. In Programa e resumos. São Carlos: CETEPE. -
NLM
Silva M de AP da, Faria RM. Estudo de filmes finos polimericos usando caracterização paramétrica de imagens obtidas pela técnica de Microscopia de Força Atômica. Programa e resumos. 2000 ;[citado 2024 abr. 16 ] -
Vancouver
Silva M de AP da, Faria RM. Estudo de filmes finos polimericos usando caracterização paramétrica de imagens obtidas pela técnica de Microscopia de Força Atômica. Programa e resumos. 2000 ;[citado 2024 abr. 16 ] - Soft lithography in ordered-desordered nanostructures of triblock copolymer
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