Exportar registro bibliográfico

Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis (2000)

  • Authors:
  • Autor USP: COSTA, JEFFERSON PEREZ RODRIGUES - EP
  • Unidade: EP
  • Sigla do Departamento: PSI
  • Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
  • Language: Português
  • Abstract: Alocação é uma tarefa da síntese de alto nível com a qual se obtém a definição do caminho de dados obedecendo restrições de hardware e otimizando a área e o desempenho do ASIC resultante. Testabilidade é uma seqüência de procedimentos que assegura que o ASIC está funcionando corretamente. Auto-testabilidade é o caso onde todo o procedimento de teste é implementado no próprio chip. Um projeto é dito completamente testável quando, em modo teste, todas as falhas possíveis são detectáveis. Esta dissertação apresenta um método para se considerar a testabilidade do ASIC durante o processo de alocação. Durante o processo de alocação, algumas restrições a mais que as habitualmente usadas, garantem esta auto-testabilidade. Usualmente, este tipo de problema de otimização é NP-Completo. No nosso caso, algumas heurísticas são usadas para se alcançar uma boa solução num tempo de computação aceitável. Esta dissertação apresenta as heurísticas de nosso algoritmo de alocação e um estudo de caso que valida o processo inteiro
  • Imprenta:
  • Data da defesa: 06.11.2000

  • How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      COSTA, Jefferson Perez Rodrigues. Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. . Acesso em: 21 maio 2024.
    • APA

      Costa, J. P. R. (2000). Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Costa JPR. Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis. 2000 ;[citado 2024 maio 21 ]
    • Vancouver

      Costa JPR. Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis. 2000 ;[citado 2024 maio 21 ]

    Últimas obras dos mesmos autores vinculados com a USP cadastradas na BDPI:

    Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2024