Sample preparation method for scanning force microscopy (2001)
- Authors:
- Autor USP: LEJBMAN, IUDA DAWID GOLDMAN VEL - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1590/s0103-97332001000400005
- Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Brazilian Journal of Physics
- ISSN: 0103-9733
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 31, n. 4, p. 552-561, 2001
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: gold
- Licença: cc-by-nc
-
ABNT
JANKOV, Ivan et al. Sample preparation method for scanning force microscopy. Brazilian Journal of Physics, v. 31, n. 4, p. 552-561, 2001Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005. Acesso em: 21 maio 2024. -
APA
Jankov, I., Szente, R. N., Lejbman, I. D. G. V., Paez Carreño, M. N., Swart, J. W., & Landers, R. (2001). Sample preparation method for scanning force microscopy. Brazilian Journal of Physics, 31( 4), 552-561. doi:10.1590/s0103-97332001000400005 -
NLM
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV, Paez Carreño MN, Swart JW, Landers R. Sample preparation method for scanning force microscopy [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2001 ; 31( 4): 552-561.[citado 2024 maio 21 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005 -
Vancouver
Jankov I, Szente RN, Lejbman IDGV, Paez Carreño MN, Swart JW, Landers R. Sample preparation method for scanning force microscopy [Internet]. Brazilian Journal of Physics. 2001 ; 31( 4): 552-561.[citado 2024 maio 21 ] Available from: https://doi.org/10.1590/s0103-97332001000400005 - Software para visualizacao e analise de matrizes bidimensionais
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Informações sobre o DOI: 10.1590/s0103-97332001000400005 (Fonte: oaDOI API)
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