Tese

Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a Microscopia de Força Atômica (2002)

• Authors:
  • Leite, Fábio de Lima
  • Herrmann Junior, Paulo Sergio de Paula (Orientador)
• Autor USP: LEITE, FABIO DE LIMA - ENGMAT
• Unidade: ENGMAT
• Sigla do Departamento: FCM
• Subjects: MICROSCOPIA; FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA
• Language: Português
• Abstract: O Microscópio de Força Atômica foi usado para investigar interações de força de adesão na nano-escala entre superfícies sólidas, através de medidas de curvas de dois ambientes: em ar e em água. As medidas de curva de força adquiridas em ar quantificaram as forças de adesão devido a componente capilar, que surge da camada de água absorvida na superfície da amostra. Os valores médios da força de adesão para o quartzo, silício e mica foram de: 20 nN; 23 nN e 32 nN, respectivamente. As medidas realizadas em água detectaram a força de adesão devido somente as forças de van der Waals, na ausência de cargas eletrostáticas, apresentando os seguintes resultados: 6nN, 6nM e 1nN, para as amostras de quartzo silício e mica, respectivamente. Esta análise revelou para os materiais utilizados nesse trabalho, que na nanoescala, são as condições ambientais, e não as propriedades do material que desempenham um papel mais importante nas interações adesivas entre sólidos. A caracterização da força de adesão em sólidos foi obtida através de 20 medidas realizadas no mesmo ponto, em 5 pontos distintos na mesma região e em 3 regiões distintas da amostra. Isto possibilitou investigar a variabilidade das forças de adesão na superfície em estudo, mostrando que a nano-adesão varia com a topografia e com as condições físicas locais. Mapas de adesão foram utilizados para caracterizar a heterogenidade de superfícies atomicamente planas (mica) e superfícies rugosas (quartzo)
• Imprenta:
  • Publisher place: São Carlos
  • Date published: 2002
• Data da defesa: 19.08.2002


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How to cite

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• ABNT

  LEITE, Fábio de Lima. Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a Microscopia de Força Atômica. 2002. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2002. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-18082015-165950/. Acesso em: 21 maio 2024.

• APA

  Leite, F. de L. (2002). Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a Microscopia de Força Atômica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-18082015-165950/

• NLM

  Leite F de L. Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a Microscopia de Força Atômica [Internet]. 2002 ;[citado 2024 maio 21 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-18082015-165950/

• Vancouver

  Leite F de L. Caracterização de forças de adesão em materiais utilizando a Microscopia de Força Atômica [Internet]. 2002 ;[citado 2024 maio 21 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-18082015-165950/

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