Caracterização de feixes padronizados de raios x de tubos de radiodiagnóstico através dos espectros medidos com detectores semicondutores de alta resolução energética (2002)
- Authors:
- USP affiliated authors: NERSISSIAN, DENISE YANIKIAN - IEE ; HERDADE, SILVIO BRUNI - IF
- Unidades: IEE; IF
- Assunto: RAIOS X
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: SIICUSP. Anais
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
MACHADO, Carolina Bruno et al. Caracterização de feixes padronizados de raios x de tubos de radiodiagnóstico através dos espectros medidos com detectores semicondutores de alta resolução energética. 2002, Anais.. São Paulo: USP, 2002. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Machado, C. B., Terini, R. A., Nersissian, D. Y., & Herdade, S. B. (2002). Caracterização de feixes padronizados de raios x de tubos de radiodiagnóstico através dos espectros medidos com detectores semicondutores de alta resolução energética. In SIICUSP. Anais. São Paulo: USP. -
NLM
Machado CB, Terini RA, Nersissian DY, Herdade SB. Caracterização de feixes padronizados de raios x de tubos de radiodiagnóstico através dos espectros medidos com detectores semicondutores de alta resolução energética. SIICUSP. Anais. 2002 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Machado CB, Terini RA, Nersissian DY, Herdade SB. Caracterização de feixes padronizados de raios x de tubos de radiodiagnóstico através dos espectros medidos com detectores semicondutores de alta resolução energética. SIICUSP. Anais. 2002 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Calibração de medidores de kVp a partir da determinação da energia máxima do espectro de raios X
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