Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície (2002)
- Authors:
- USP affiliated authors: FARIA, DALVA LUCIA ARAUJO DE - IQ ; SILVA, MARIA LUCIA PEREIRA DA - EP
- Unidades: IQ; EP
- Subjects: FÍSICO-QUÍMICA; ESPECTROSCOPIA RAMAN; SILÍCIO
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Universidade de São Paulo
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2002
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
-
ABNT
GOLDFEDER, Mauricio Barbugiani et al. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. 2002, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo, 2002. . Acesso em: 01 maio 2024. -
APA
Goldfeder, M. B., Carvalho, A. T. de, Faria, D. L. A. de, & Silva, M. L. P. da. (2002). Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. In Resumos. São Carlos: Universidade de São Paulo. -
NLM
Goldfeder MB, Carvalho AT de, Faria DLA de, Silva MLP da. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. Resumos. 2002 ;[citado 2024 maio 01 ] -
Vancouver
Goldfeder MB, Carvalho AT de, Faria DLA de, Silva MLP da. Avaliação do uso de silíco corroído como substrato para espectroscopia Raman intensificada por superfície. Resumos. 2002 ;[citado 2024 maio 01 ] - Estudo da adsorção de silício poroso
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