Estudo de orientações cristalográficas de aços ao silício utilizando técnicas de difração de raios X, difração de elétrons e método ETCH PIT (1999)
- Authors:
- Autor USP: SANTOS, HAMILTA DE OLIVEIRA - IPEN
- Unidade: IPEN
- Subjects: AÇO; SILÍCIO; CRISTALOGRAFIA; MATERIAIS (PROPRIEDADES ELÉTRICAS); DIFRAÇÃO POR RAIOS X; METALOGRAFIA MICROSCÓPICA
- Language: Português
- Imprenta:
- Data da defesa: 27.10.1999
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ABNT
SANTOS, Hamilta de Oliveira. Estudo de orientações cristalográficas de aços ao silício utilizando técnicas de difração de raios X, difração de elétrons e método ETCH PIT. 1999. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1999. . Acesso em: 03 jun. 2024. -
APA
Santos, H. de O. (1999). Estudo de orientações cristalográficas de aços ao silício utilizando técnicas de difração de raios X, difração de elétrons e método ETCH PIT (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. -
NLM
Santos H de O. Estudo de orientações cristalográficas de aços ao silício utilizando técnicas de difração de raios X, difração de elétrons e método ETCH PIT. 1999 ;[citado 2024 jun. 03 ] -
Vancouver
Santos H de O. Estudo de orientações cristalográficas de aços ao silício utilizando técnicas de difração de raios X, difração de elétrons e método ETCH PIT. 1999 ;[citado 2024 jun. 03 ]
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