Caracterização estrutural e eletrointercalação de íons em lítio em compósitos V205/gelatina (2004)
- Authors:
- Autor USP: MOREIRA, ANDERSON LUIS - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- Sigla do Departamento: 593
- Subjects: ELETROQUÍMICA; QUÍMICA
- Language: Português
- Abstract: Neste trabalho foi preparado e caracterizado estruturalmente um novo compósito de pentóxido de vanádio xerogel (XRG-'V IND. 2''O IND. 5') e gelatina na proporção de 1 e 10% em massa (gelatina/'V IND. 2''O IND. 5'). O xerogel obtido foi , submetido a secagem (80, 200 ou 300°C) sob pressão reduzida por 4 horas. A caracterização estrutural consistiu de medidas de difração de raios-X (DRX), espectroscopia FTIR,e Raman, análise termogravimétrica (TGA) e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Técnicas de voltametria cíclica a baixa velocidade de varredura e curvas cronopotenciométricas foram também aplicadas para investigação do comportamento deste xerogel frente a eletrointercalação de íons lítio. Foi observado que os compósitos XRG- 'V IND. 2''O IND. 5'/gelatina possuem basicamente a mesma estrutura local do XRG-'V IND. 2''O IND 5', ou seja são constituídos por pirâmides distorcidas de base quadrada V'O IND. 5'. Os compósitos também apresentam organização bidimensional com formação de camadas, semelhante ao XRG-'V IND.2''O IND. 5' pristino. A gelatina encontra-se no material inserida entre as camadas do xerogel, e sua presença altera significativamente o valor da distância basal, não sendo esta distância diminuída com o aumento da temperatura de tratamento térmico. A gelatina também afeta o grau de desordem do xerogel. Os resultados sugerem que a gelatina presente no interior do material encontra-se em conformações segundo a concentração de 'H IND. 2'O no mesmo. Oscompósitos mostraram-se aptos a intercalar íons lítio eletroquimicamente. Os XRG-'V IND. 2''O IND. 5'/gelatina preparados com 1 % de gelatina, e em particular a amostra submetida ao tratamento térmico a 200°C, fornecem capacidades específicas superiores àquelas encontradas na literatura para o XRG-'V IND. 2''O IND. 5' pristino (capacidades específicas superiores a 120 mA-h-g-¹). Também verificou-se que a gelatina não participa ) dos processos de transferência de carga com o lítio
- Imprenta:
- Publisher place: Ribeirão Preto
- Date published: 2004
- Data da defesa: 05.04.2004
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ABNT
MOREIRA, Anderson Luís. Caracterização estrutural e eletrointercalação de íons em lítio em compósitos V205/gelatina. 2004. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, Ribeirão Preto, 2004. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/59/59138/tde-22122006-102332/. Acesso em: 25 abr. 2024. -
APA
Moreira, A. L. (2004). Caracterização estrutural e eletrointercalação de íons em lítio em compósitos V205/gelatina (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, Ribeirão Preto. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/59/59138/tde-22122006-102332/ -
NLM
Moreira AL. Caracterização estrutural e eletrointercalação de íons em lítio em compósitos V205/gelatina [Internet]. 2004 ;[citado 2024 abr. 25 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/59/59138/tde-22122006-102332/ -
Vancouver
Moreira AL. Caracterização estrutural e eletrointercalação de íons em lítio em compósitos V205/gelatina [Internet]. 2004 ;[citado 2024 abr. 25 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/59/59138/tde-22122006-102332/
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