Raman and infrared spectroscopy studies of carbon nitride films prepared on Si (100) substrates by ion beam assisted deposition (2006)
- Authors:
- USP affiliated authors: MATSUOKA, MASAO - IF ; ADDED, NEMITALA - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1590/s0103-50532006000600014
- Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN; ESPECTROSCOPIA INFRAVERMELHA
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Journal of Brazilian Chemical Society
- Este periódico é de acesso aberto
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: gold
- Licença: cc-by
-
ABNT
SUCASAIRE, Wilmer et al. Raman and infrared spectroscopy studies of carbon nitride films prepared on Si (100) substrates by ion beam assisted deposition. Journal of Brazilian Chemical Society, 2006Tradução . . Disponível em: http://www.scielo.br/pdf/jbchs/v17n6/a14v17n6.pdf. Acesso em: 30 abr. 2024. -
APA
Sucasaire, W., Matsuoka, M., Lopes, K. C., Mittani, J. C. R., Avanci, L. H., Chubaci, J. F. D., et al. (2006). Raman and infrared spectroscopy studies of carbon nitride films prepared on Si (100) substrates by ion beam assisted deposition. Journal of Brazilian Chemical Society. doi:10.1590/s0103-50532006000600014 -
NLM
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat EJ. Raman and infrared spectroscopy studies of carbon nitride films prepared on Si (100) substrates by ion beam assisted deposition [Internet]. Journal of Brazilian Chemical Society. 2006 ;[citado 2024 abr. 30 ] Available from: http://www.scielo.br/pdf/jbchs/v17n6/a14v17n6.pdf -
Vancouver
Sucasaire W, Matsuoka M, Lopes KC, Mittani JCR, Avanci LH, Chubaci JFD, Added N, Trava V, Corat EJ. Raman and infrared spectroscopy studies of carbon nitride films prepared on Si (100) substrates by ion beam assisted deposition [Internet]. Journal of Brazilian Chemical Society. 2006 ;[citado 2024 abr. 30 ] Available from: http://www.scielo.br/pdf/jbchs/v17n6/a14v17n6.pdf - Estudo de filmes finos de nitreto de carbono preparados com o método de deposição assistida por feixe de íons
- Medidas preliminares usando a técnica ERDA no Laboratório Pelletron
- Análise de elementos leves através de um sistema ERDA alternativo no Laboratório Pelletron-IFUSP
- Light element analysis using ERDA method with an ionization chamber
- TOF-ERDA system for light elements analysis using 'ANTPOT.35 Cl' beam
- Identificação e quantificação de elementos leves através de um sistema TOF-ERDA no Laboratório Pelletron-IFUSP
- "Desenvolvimento de um sistema TOF-ERDA para análise de elementos leves"
- Is the x-ray spectrum of the seyfert 2 galaxy ngc 5252 intrinsically flat?
- An ASCA observation of the radio-loud narrow-line Seyfert 1 galaxy RGB J0044+193
- Properties of 'ZR'-n thin films prepared by the ion and vapour deposition method
Informações sobre o DOI: 10.1590/s0103-50532006000600014 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas