Sample stacking in CZE using dynamic thermal junctions II.: analytes with high dpKa/dT crossing a single thermal induced junction in a BGE with dpH/dT (2009)
- Authors:
- Mandaji, Marcos - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
- Rübensam, Gabriel - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
- Hoff, Rodrigo Barcellos - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
- Hillebrand, Sandro
- Carrilho, Emanuel
- Kist, Tarso Ledur - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
- Autor USP: CARRILHO, EMANUEL - IQSC
- Unidade: IQSC
- Subjects: QUÍMICA; ELETROFORESE
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Electrophoresis
- ISSN: 0173-0835
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 30, n. 9, p. 1510-1515, 2009
-
ABNT
MANDAJI, Marcos et al. Sample stacking in CZE using dynamic thermal junctions II.: analytes with high dpKa/dT crossing a single thermal induced junction in a BGE with dpH/dT. Electrophoresis, v. 30, n. 9, p. 1510-1515, 2009Tradução . . Disponível em: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122304926/PDFSTART. Acesso em: 03 maio 2024. -
APA
Mandaji, M., Rübensam, G., Hoff, R. B., Hillebrand, S., Carrilho, E., & Kist, T. L. (2009). Sample stacking in CZE using dynamic thermal junctions II.: analytes with high dpKa/dT crossing a single thermal induced junction in a BGE with dpH/dT. Electrophoresis, 30( 9), 1510-1515. Recuperado de http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122304926/PDFSTART -
NLM
Mandaji M, Rübensam G, Hoff RB, Hillebrand S, Carrilho E, Kist TL. Sample stacking in CZE using dynamic thermal junctions II.: analytes with high dpKa/dT crossing a single thermal induced junction in a BGE with dpH/dT [Internet]. Electrophoresis. 2009 ; 30( 9): 1510-1515.[citado 2024 maio 03 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122304926/PDFSTART -
Vancouver
Mandaji M, Rübensam G, Hoff RB, Hillebrand S, Carrilho E, Kist TL. Sample stacking in CZE using dynamic thermal junctions II.: analytes with high dpKa/dT crossing a single thermal induced junction in a BGE with dpH/dT [Internet]. Electrophoresis. 2009 ; 30( 9): 1510-1515.[citado 2024 maio 03 ] Available from: http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/fulltext/122304926/PDFSTART - Desenvolvimento de um sequenciador de DNA baseado em eletroforese capilar com múltiplos capilares e detecção induzida por laser: Análise funcional da região Q9, do cromossomo 17, do genoma murídeo
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