Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA (2016)
- Authors:
- Autor USP: RODRIGUES, CLEBER LIMA - IF
- Unidade: IF
- Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; FILMES FINOS
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Posters - Resumos
- Conference titles: Encontro de Física
-
ABNT
SILVA, Janderson L et al. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA. 2016, Anais.. São Paulo: SBF, 2016. Disponível em: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf. Acesso em: 28 abr. 2024. -
APA
Silva, J. L., Chinaglia, E. F., Oliveira, J. F., Curado, J. F., & Rodrigues, C. L. (2016). Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA. In Posters - Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf -
NLM
Silva JL, Chinaglia EF, Oliveira JF, Curado JF, Rodrigues CL. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2024 abr. 28 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf -
Vancouver
Silva JL, Chinaglia EF, Oliveira JF, Curado JF, Rodrigues CL. Thickness measurements of Ti/TiO2/Ti and Hf/HfO2/Hf multilayers using AFM and NRA [Internet]. Posters - Resumos. 2016 ;[citado 2024 abr. 28 ] Available from: http://www1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2016/sys/resumos/R0459-2.pdf - Estudo da reação 'ANTPOT.99 Ru'(d,p)'ANTPOT.100 Ru'
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