Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy (2017)
- Authors:
- Capeli, R. A. - Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (UNESP)
- Pontes, F. M. - Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (UNESP)
- Pontes, D. S. L. - Universidade Federal de São Carlos (UFSCar)
- Chiquito, A. J. - Universidade Federal de São Carlos (UFSCar)
- Bastos, W. B. - Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (UNESP)
- Silva, Marcelo de Assumpção Pereira da
- Longo, E. - Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (UNESP)
- Autor USP: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.matlet.2017.03.029
- Subjects: INFORMAÇÃO QUÂNTICA; CAMPO MAGNÉTICO
- Keywords: Thin films; PFM; Buffer layer; Epitaxial growth
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Materials Letters
- ISSN: 0167-577X
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 196, p. 64-68, June 2017
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo é de acesso aberto
- URL de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: green
- Licença: other-oa
-
ABNT
CAPELI, R. A. et al. Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy. Materials Letters, v. 196, p. 64-68, 2017Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.matlet.2017.03.029. Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Capeli, R. A., Pontes, F. M., Pontes, D. S. L., Chiquito, A. J., Bastos, W. B., Silva, M. de A. P. da, & Longo, E. (2017). Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy. Materials Letters, 196, 64-68. doi:10.1016/j.matlet.2017.03.029 -
NLM
Capeli RA, Pontes FM, Pontes DSL, Chiquito AJ, Bastos WB, Silva M de AP da, Longo E. Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy [Internet]. Materials Letters. 2017 ; 196 64-68.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matlet.2017.03.029 -
Vancouver
Capeli RA, Pontes FM, Pontes DSL, Chiquito AJ, Bastos WB, Silva M de AP da, Longo E. Nanoscale investigation of ferroelectric and piezoelectric properties in (Pb,Ca)TiO3 thin films grown on LaNiO3/LaAlO3(100) and Pt/Si(111) using piezoresponse force microscopy [Internet]. Materials Letters. 2017 ; 196 64-68.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.matlet.2017.03.029 - Microscopia de força atômica aplicada a polímeros. (Em CD-ROM)
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.matlet.2017.03.029 (Fonte: oaDOI API)
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| Tipo | Nome | Link | |
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