Imitation risk and market attraction on patent applications (2020)
- Authors:
- USP affiliated authors: OLIVA, FABIO LOTTI - FEA ; GRISI, CELSO CLAUDIO DE HILDEBRAND E - FEA ; BUTION, JEFFERSON LUIZ - FEA ; PAZA, ANDREI CARLOS TORRESANI - FEA ; TESTI, LUCAS ISRAEL OLIVEIRA - FEA ; TEBERGA, PEDRO MARINS FREIRE - FEA
- Unidade: FEA
- Subjects: PATENTE; RISCO; IMITAÇÃO; INOVAÇÃO; PROPRIEDADE INTELECTUAL
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: ANPAD
- Publisher place: Rio de Janeiro
- Date published: 2020
- Source:
- Título do periódico: Anais
- Conference titles: Encontro da Associação Nacional de Pós-Graduação e Pesquisa em Administração - ENANPAD
-
ABNT
BUTION, Jefferson Luiz et al. Imitation risk and market attraction on patent applications. 2020, Anais.. Rio de Janeiro: ANPAD, 2020. Disponível em: http://www.anpad.org.br/abrir_pdf.php?e=MjgxNTI=. Acesso em: 27 abr. 2024. -
APA
Bution, J. L., Paza, A. C. T., Testi, L. I. O., Teberga, P. M. F., Oliva, F. L., & Grisi, C. C. de H. e. (2020). Imitation risk and market attraction on patent applications. In Anais. Rio de Janeiro: ANPAD. Recuperado de http://www.anpad.org.br/abrir_pdf.php?e=MjgxNTI= -
NLM
Bution JL, Paza ACT, Testi LIO, Teberga PMF, Oliva FL, Grisi CC de H e. Imitation risk and market attraction on patent applications [Internet]. Anais. 2020 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.anpad.org.br/abrir_pdf.php?e=MjgxNTI= -
Vancouver
Bution JL, Paza ACT, Testi LIO, Teberga PMF, Oliva FL, Grisi CC de H e. Imitation risk and market attraction on patent applications [Internet]. Anais. 2020 ;[citado 2024 abr. 27 ] Available from: http://www.anpad.org.br/abrir_pdf.php?e=MjgxNTI= - Adaptando o modelo prepare para gestão de riscos em crises de tecnologia
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