Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique (2020)
- Authors:
- Autor USP: MORELHAO, SERGIO LUIZ - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/j.radphyschem.2019.04.023
- Subjects: CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X; RADIAÇÃO SINCROTRON; MATERIAIS NANOESTRUTURADOS; NANOPARTÍCULAS
- Language: Inglês
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- Cor do Acesso Aberto: green
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ABNT
HÖNNICKE, Marcelo G. e MORELHÃO, Sergio Luiz. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. . São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023. Acesso em: 01 maio 2024. , 2020 -
APA
Hönnicke, M. G., & Morelhão, S. L. (2020). Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.04.023 -
NLM
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023 -
Vancouver
Hönnicke MG, Morelhão SL. Intrinsic spatial resolution limit of the analyzer-based X-ray phase contrast imaging technique [Internet]. 2020 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.04.023 - High-resolution synchrotron radiation Renninger scan to examine hybrid reflections in InGaP/GaAs(001)
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.radphyschem.2019.04.023 (Fonte: oaDOI API)
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