Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures (2007)
- Autores:
- Autores USP: TABACNIKS, MANFREDO HARRI - IF ; RIZZUTTO, MARCIA DE ALMEIDA - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1063/1.2773950
- Assuntos: FÍSICA NUCLEAR; SILÍCIO; COLISÕES DE ÍONS PESADOS RELATIVÍSTICOS; RESISTÊNCIA FÍSICA; DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS; FÍSICA; SEMICONDUTORES; TRANSISTORES
- Palavras-chave do autor: Electronic devices; Physical quantities; Semiconductor device fabrication; Ion beam analysis; Minerals; Electric power; Negative resistance; Signal generators; Oscilloscopes; Field effect transistors
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Applied Physics Letters
- ISSN: 1077-3118
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 91, n. 8, 20 de agosto de 2007, número do artigo: 083512
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
FINKA, D. et al. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, v. 91, n. 8, 2007Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.2773950. Acesso em: 08 jun. 2024. -
APA
Finka, D., Kiv, A., Fuks, D., Tabacniks, M., Rizzutto, M., Silva, A. D. O. D., et al. (2007). Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures. Applied Physics Letters, 91( 8). doi:10.1063/1.2773950 -
NLM
Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2024 jun. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950 -
Vancouver
Finka D, Kiv A, Fuks D, Tabacniks M, Rizzutto M, Silva ADOD, Chandra A, Golovanov V, Ivanovskaya M, Khirunenko L. Irradiation induced pulsations of reverse biased metal oxide/silicon structures [Internet]. Applied Physics Letters. 2007 ; 91( 8):[citado 2024 jun. 08 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.2773950 - Padrões de filmes analisados por RBS
- Correlation between heavy metal ions (Copper, Zinc, Lead) concentrations and root lenght of allium cepa L. in polluted river water
- Light elements quantification in a PIXE analysis by the equivalent oxygen method
- Study of trace elements in human whole blood and serum
- Thin target PIXE calibration using thick target yields
- Swift heavy ion irradiation as a tool for creating novel nanoelectronic structures
- Particle Induced X-ray Emission (PIXE) and Its Applications for Ceramic Analysis
- X-ray production yield in standardized thick target PIXE
- Construction and characterization of nanostructures in ion tracks
- Nuclear analytical methods applied to the analysis of certified Bone reference material
Informações sobre o DOI: 10.1063/1.2773950 (Fonte: oaDOI API)
Como citar
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
