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Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique (2000)
Foschini, C R; Mastelaro, Valmor Roberto; Varella, J A
Source: Activity report 1999. Unidade: IFSC
Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
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ABNT
FOSCHINI, C R e MASTELARO, Valmor Roberto e VARELLA, J A. Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique. Activity report 1999. Campinas: LNLS. . Acesso em: 11 jun. 2024. , 2000
APA
Foschini, C. R., Mastelaro, V. R., & Varella, J. A. (2000). Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique. Activity report 1999. Campinas: LNLS.
NLM
Foschini CR, Mastelaro VR, Varella JA. Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique. Activity report 1999. 2000 ;[citado 2024 jun. 11 ]
Vancouver
Foschini CR, Mastelaro VR, Varella JA. Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique. Activity report 1999. 2000 ;[citado 2024 jun. 11 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt (1996)
Zanetti, S M; Foschini, C R; Leite, E R; Longo, E; Varela, J A; Olivi, P
Source: Ceramica. Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica. Unidade: FFCLRP
Subjects: FILMES FINOS, RAIOS X
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ABNT
ZANETTI, S M et al. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. [S.l.]: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 11 jun. 2024. , 1996
APA
Zanetti, S. M., Foschini, C. R., Leite, E. R., Longo, E., Varela, J. A., & Olivi, P. (1996). Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo.
NLM
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2024 jun. 11 ]
Vancouver
Zanetti SM, Foschini CR, Leite ER, Longo E, Varela JA, Olivi P. Fluorescência de raios x aplicada a determinação da espessura de filmes finos de pzt. Ceramica. 1996 ;42( 275): 99-102.[citado 2024 jun. 11 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Sintese de filmes de pzt pela decomposicao de precursores organicos (1996)
Foschini, C R; Varela, J A; Zaghette, M A; Olivi, P; Longo, E
Source: Ceramica. Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica. Unidade: FFCLRP
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
FOSCHINI, C R et al. Sintese de filmes de pzt pela decomposicao de precursores organicos. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 11 jun. 2024. , 1996
APA
Foschini, C. R., Varela, J. A., Zaghette, M. A., Olivi, P., & Longo, E. (1996). Sintese de filmes de pzt pela decomposicao de precursores organicos. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo.
NLM
Foschini CR, Varela JA, Zaghette MA, Olivi P, Longo E. Sintese de filmes de pzt pela decomposicao de precursores organicos. Ceramica. 1996 ;42( 275): 158-61.[citado 2024 jun. 11 ]
Vancouver
Foschini CR, Varela JA, Zaghette MA, Olivi P, Longo E. Sintese de filmes de pzt pela decomposicao de precursores organicos. Ceramica. 1996 ;42( 275): 158-61.[citado 2024 jun. 11 ]
Trabalho de evento-anais periodico
Obtencao de filmes finos de pzt dopados com niobio por decomposicao de precursores polimericos (1996)
Paris, E C; Varela, J A; Zaghette, M A; Olivi, P; Foschini, C R; Longo, E
Source: Ceramica. Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica. Unidade: FFCLRP
Assunto: FILMES FINOS
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ABNT
PARIS, E C et al. Obtencao de filmes finos de pzt dopados com niobio por decomposicao de precursores polimericos. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 11 jun. 2024. , 1996
APA
Paris, E. C., Varela, J. A., Zaghette, M. A., Olivi, P., Foschini, C. R., & Longo, E. (1996). Obtencao de filmes finos de pzt dopados com niobio por decomposicao de precursores polimericos. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo.
NLM
Paris EC, Varela JA, Zaghette MA, Olivi P, Foschini CR, Longo E. Obtencao de filmes finos de pzt dopados com niobio por decomposicao de precursores polimericos. Ceramica. 1996 ;42( 275): 154-7.[citado 2024 jun. 11 ]
Vancouver
Paris EC, Varela JA, Zaghette MA, Olivi P, Foschini CR, Longo E. Obtencao de filmes finos de pzt dopados com niobio por decomposicao de precursores polimericos. Ceramica. 1996 ;42( 275): 154-7.[citado 2024 jun. 11 ]
Trabalho de evento-resumo
Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia (1994)
Foschini, C R; Pinatti, D P F S; Paullin Filho, P I; Ferraz, M C; Basso, Heitor Cury; Mascarenhas, Yvonne Primerano
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IFSC
Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
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ABNT
FOSCHINI, C R et al. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 11 jun. 2024.
APA
Foschini, C. R., Pinatti, D. P. F. S., Paullin Filho, P. I., Ferraz, M. C., Basso, H. C., & Mascarenhas, Y. P. (1994). Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica.
NLM
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 jun. 11 ]
Vancouver
Foschini CR, Pinatti DPFS, Paullin Filho PI, Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios x: zirconia. Resumos. 1994 ;[citado 2024 jun. 11 ]

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