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Trabalho de evento
Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante (2012)
Gómez Gómez, Adriana ; Recco, Abel André Cândido ; Rincon, Daniel Escobar; Souza, Roberto Martins de
Source: Anais. Conference titles: Congresso Nacional de Engenharia Mecânica - CONEM. Unidade: EP
Subjects: TENSÃO RESIDUAL, FILMES FINOS, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana et al. Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante. 2012, Anais.. Rio de Janeiro: ABCM, 2012. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6122e6ca-2546-4971-9781-3d80f5f17582/Souza_RM-2012-AN%C3%81LISE%20DE%20GRADIENTES%20DE%20TENS%C3%95ES%20RESIDUAIS%20EM%20FILMES%20FINOS.PDF. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Recco, A. A. C., Rincon, D. E., & Souza, R. M. de. (2012). Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante. In Anais. Rio de Janeiro: ABCM. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/6122e6ca-2546-4971-9781-3d80f5f17582/Souza_RM-2012-AN%C3%81LISE%20DE%20GRADIENTES%20DE%20TENS%C3%95ES%20RESIDUAIS%20EM%20FILMES%20FINOS.PDF
NLM
Gómez Gómez A, Recco AAC, Rincon DE, Souza RM de. Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante [Internet]. Anais. 2012 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6122e6ca-2546-4971-9781-3d80f5f17582/Souza_RM-2012-AN%C3%81LISE%20DE%20GRADIENTES%20DE%20TENS%C3%95ES%20RESIDUAIS%20EM%20FILMES%20FINOS.PDF
Vancouver
Gómez Gómez A, Recco AAC, Rincon DE, Souza RM de. Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante [Internet]. Anais. 2012 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/6122e6ca-2546-4971-9781-3d80f5f17582/Souza_RM-2012-AN%C3%81LISE%20DE%20GRADIENTES%20DE%20TENS%C3%95ES%20RESIDUAIS%20EM%20FILMES%20FINOS.PDF
Artigo de periodico
Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data (2012)
Mady, Carlos Eduardo Keutenedjian ; Rodríguez Pulecio, Sara Aida ; Gómez Gómez, Adriana ; Souza, Roberto Martins de
Source: Journal of Materials Research. Unidade: EP
Subjects: TENSÃO RESIDUAL, FILMES FINOS
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ABNT
MADY, Carlos Eduardo Keutenedjian et al. Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data. Journal of Materials Research, v. 27, n. 13, p. 1732-1741, 2012Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1557/jmr.2012.166. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Mady, C. E. K., Rodríguez Pulecio, S. A., Gómez Gómez, A., & Souza, R. M. de. (2012). Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data. Journal of Materials Research, 27( 13), 1732-1741. doi:10.1557/jmr.2012.166
NLM
Mady CEK, Rodríguez Pulecio SA, Gómez Gómez A, Souza RM de. Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data [Internet]. Journal of Materials Research. 2012 ; 27( 13): 1732-1741.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1557/jmr.2012.166
Vancouver
Mady CEK, Rodríguez Pulecio SA, Gómez Gómez A, Souza RM de. Numerical analysis of different methods to calculate residual stresses in thin films based on instrumented indentation data [Internet]. Journal of Materials Research. 2012 ; 27( 13): 1732-1741.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1557/jmr.2012.166
Artigo de periodico
Effects of mechanical properties, residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films (2010)
Mady, Carlos Eduardo Keutenedjian ; Rodriguez Pulecio, Sara Aida ; Gómez Gómez, Adriana ; Souza, Roberto Martins de
Source: Surface & Coatings Technology. Unidade: EP
Subjects: TENSÃO RESIDUAL, FILMES FINOS, PROPRIEDADES DOS MATERIAIS
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ABNT
MADY, Carlos Eduardo Keutenedjian et al. Effects of mechanical properties, residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films. Surface & Coatings Technology, v. 205, p. 1393-1397, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.07.097. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Mady, C. E. K., Rodriguez Pulecio, S. A., Gómez Gómez, A., & Souza, R. M. de. (2010). Effects of mechanical properties, residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films. Surface & Coatings Technology, 205, 1393-1397. doi:10.1016/j.surfcoat.2010.07.097
NLM
Mady CEK, Rodriguez Pulecio SA, Gómez Gómez A, Souza RM de. Effects of mechanical properties, residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 205 1393-1397.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.07.097
Vancouver
Mady CEK, Rodriguez Pulecio SA, Gómez Gómez A, Souza RM de. Effects of mechanical properties, residual stress and indenter tip geometry on instrumented indentation data in thin films [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 205 1393-1397.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.07.097
Artigo de periodico
Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition (2010)
Gómez Gómez, Adriana ; Recco, Abel André Cândido ; Lima, N B; Martinez, L G; Tschiptschin, André Paulo ; Souza, Roberto Martins de
Source: Surface & Coatings Technology. Unidade: EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, TITÂNIO, FILMES FINOS
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana et al. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition. Surface & Coatings Technology, v. 204, n. 20, p. 3228-3233, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Recco, A. A. C., Lima, N. B., Martinez, L. G., Tschiptschin, A. P., & Souza, R. M. de. (2010). Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition. Surface & Coatings Technology, 204( 20), 3228-3233. doi:10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
NLM
Gómez Gómez A, Recco AAC, Lima NB, Martinez LG, Tschiptschin AP, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 204( 20): 3228-3233.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
Vancouver
Gómez Gómez A, Recco AAC, Lima NB, Martinez LG, Tschiptschin AP, Souza RM de. Residual stresses in titanium nitride thin films obtained with step variation of substrate bias voltage during deposition [Internet]. Surface & Coatings Technology. 2010 ; 204( 20): 3228-3233.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2010.03.016
Trabalho de evento
Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante (2008)
Mady, Carlos Eduardo Keutenedjian ; Gómez Gómez, Adriana ; Souza, Roberto Martins de ; Tanaka, Deniol Katsuki
Source: Anais. Conference titles: Encontro de Iniciação Científica Laboratório de Fenômenos de Superfície, Departamento de Engenharia Mecânica. Unidade: EP
Subjects: TENSÃO RESIDUAL, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, FILMES FINOS
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ABNT
MADY, Carlos Eduardo Keutenedjian et al. Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante. 2008, Anais.. São Paulo: EPUSP, 2008. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/38166894-3c7e-41a6-997a-9956500a4852/Tanaka-2008-C%C3%A1lculo%20de%20tens%C3%B5es%20residuais%20em%20filmes%20finos%20atrav%C3%A9s%20ok.pdf. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Mady, C. E. K., Gómez Gómez, A., Souza, R. M. de, & Tanaka, D. K. (2008). Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante. In Anais. São Paulo: EPUSP. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/38166894-3c7e-41a6-997a-9956500a4852/Tanaka-2008-C%C3%A1lculo%20de%20tens%C3%B5es%20residuais%20em%20filmes%20finos%20atrav%C3%A9s%20ok.pdf
NLM
Mady CEK, Gómez Gómez A, Souza RM de, Tanaka DK. Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante [Internet]. Anais. 2008 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/38166894-3c7e-41a6-997a-9956500a4852/Tanaka-2008-C%C3%A1lculo%20de%20tens%C3%B5es%20residuais%20em%20filmes%20finos%20atrav%C3%A9s%20ok.pdf
Vancouver
Mady CEK, Gómez Gómez A, Souza RM de, Tanaka DK. Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante [Internet]. Anais. 2008 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/38166894-3c7e-41a6-997a-9956500a4852/Tanaka-2008-C%C3%A1lculo%20de%20tens%C3%B5es%20residuais%20em%20filmes%20finos%20atrav%C3%A9s%20ok.pdf
Artigo de periodico
Quantitative Analysis of Aluminum Dross by the Rietveld Method (2008)
Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Nelson Batista de ; Tenório, Jorge Alberto Soares
Source: Materials Transactions. Unidade: EP
Subjects: ALUMÍNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESCÓRIA
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana e LIMA, Nelson Batista de e TENÓRIO, Jorge Alberto Soares. Quantitative Analysis of Aluminum Dross by the Rietveld Method. Materials Transactions, v. 49, n. 4, p. 728-732, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.2320/matertrans.MRA2007129. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Lima, N. B. de, & Tenório, J. A. S. (2008). Quantitative Analysis of Aluminum Dross by the Rietveld Method. Materials Transactions, 49( 4), 728-732. doi:10.2320/matertrans.MRA2007129
NLM
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Quantitative Analysis of Aluminum Dross by the Rietveld Method [Internet]. Materials Transactions. 2008 ;49( 4): 728-732.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.2320/matertrans.MRA2007129
Vancouver
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Quantitative Analysis of Aluminum Dross by the Rietveld Method [Internet]. Materials Transactions. 2008 ;49( 4): 728-732.[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://doi.org/10.2320/matertrans.MRA2007129
Trabalho de evento
Estudo experimental e numérico do gradiente de temperatura em um cilindro de laminação instrumentado (2007)
Franco Guzmán, Édiguer Enrique ; Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Luiz Gustavo del Bianchi da Silva ; Villabón Ramos, Leonardo; Santos, Claudio Eduardo Rocha dos; Sinatora, Amilton
Source: Anais. Conference titles: Seminário de Laminação Processos e Produtos Laminados e Revestidos. Unidade: EP
Subjects: TRANSFERÊNCIA DE CALOR, LAMINAÇÃO (INSTRUMENTAÇÃO), CHAPAS (SIMULAÇÃO)
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ABNT
FRANCO GUZMÁN, Édiguer Enrique et al. Estudo experimental e numérico do gradiente de temperatura em um cilindro de laminação instrumentado. 2007, Anais.. Campos do Jordão: ABM, 2007. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aa8cdb3e-50f9-4540-bd1c-ac5724d81929/sinatora-2007-estudo%20experimental%20e%20numerico.pdf. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Franco Guzmán, É. E., Gómez Gómez, A., Lima, L. G. del B. da S., Villabón Ramos, L., Santos, C. E. R. dos, & Sinatora, A. (2007). Estudo experimental e numérico do gradiente de temperatura em um cilindro de laminação instrumentado. In Anais. Campos do Jordão: ABM. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/aa8cdb3e-50f9-4540-bd1c-ac5724d81929/sinatora-2007-estudo%20experimental%20e%20numerico.pdf
NLM
Franco Guzmán ÉE, Gómez Gómez A, Lima LG del B da S, Villabón Ramos L, Santos CER dos, Sinatora A. Estudo experimental e numérico do gradiente de temperatura em um cilindro de laminação instrumentado [Internet]. Anais. 2007 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aa8cdb3e-50f9-4540-bd1c-ac5724d81929/sinatora-2007-estudo%20experimental%20e%20numerico.pdf
Vancouver
Franco Guzmán ÉE, Gómez Gómez A, Lima LG del B da S, Villabón Ramos L, Santos CER dos, Sinatora A. Estudo experimental e numérico do gradiente de temperatura em um cilindro de laminação instrumentado [Internet]. Anais. 2007 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/aa8cdb3e-50f9-4540-bd1c-ac5724d81929/sinatora-2007-estudo%20experimental%20e%20numerico.pdf
Tese (Doutorado)
Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-X (2006)
Gómez Gómez, Adriana ; Tenório, Jorge Alberto Soares (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ALUMÍNIO (TEOR)
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana. Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-X. 2006. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2006. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15092006-103418/. Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A. (2006). Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-X (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15092006-103418/
NLM
Gómez Gómez A. Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-X [Internet]. 2006 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15092006-103418/
Vancouver
Gómez Gómez A. Determinação do teor de alumínio em drosses brancas de alumínio utilizando difração de raios-X [Internet]. 2006 ;[citado 2024 jun. 12 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-15092006-103418/
Trabalho de evento
Método para caracterização de resíduos sólidos provenientes da produção de alumínio (2006)
Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Nelson Batista de ; Tenório, Jorge Alberto Soares
Source: Anais. ICTR 2006 s.L.; s.n.; 2006.. Conference titles: Congresso Brasileiro de Gestão Ambiental e Desenvolvimento Sustentável: Resíduo, Desafio Brasileiro. Unidade: EP
Subjects: RESÍDUOS SÓLIDOS, ALUMÍNIO, RECICLAGEM DE RESÍDUOS URBANOS
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana e LIMA, Nelson Batista de e TENÓRIO, Jorge Alberto Soares. Método para caracterização de resíduos sólidos provenientes da produção de alumínio. 2006, Anais.. s.L: s.n, 2006. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Lima, N. B. de, & Tenório, J. A. S. (2006). Método para caracterização de resíduos sólidos provenientes da produção de alumínio. In Anais. ICTR 2006 s.L.; s.n.; 2006.. s.L: s.n.
NLM
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Método para caracterização de resíduos sólidos provenientes da produção de alumínio. Anais. ICTR 2006 s.L.; s.n.; 2006. 2006 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Método para caracterização de resíduos sólidos provenientes da produção de alumínio. Anais. ICTR 2006 s.L.; s.n.; 2006. 2006 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Trabalho de evento
Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio (2005)
Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Nelson Batista de ; Tenório, Jorge Alberto Soares
Source: Anais.. Conference titles: Congresso Anual da ABM. Unidade: EP
Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ALUMÍNIO
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ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana e LIMA, Nelson Batista de e TENÓRIO, Jorge Alberto Soares. Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio. 2005, Anais.. São Paulo: ABM, 2005. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Lima, N. B. de, & Tenório, J. A. S. (2005). Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio. In Anais.. São Paulo: ABM.
NLM
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio. Anais. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio. Anais. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Trabalho de evento
Quantitative characterization of phases present in aluminum drosses through x-ray diffraction (2005)
Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Nelson Batista de ; Tenório, Jorge Alberto Soares
Source: Proceedings. Conference titles: EPD 2005. Unidade: EP
Subjects: ALUMÍNIO, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana e LIMA, Nelson Batista de e TENÓRIO, Jorge Alberto Soares. Quantitative characterization of phases present in aluminum drosses through x-ray diffraction. 2005, Anais.. Warrendale: TMS, 2005. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Lima, N. B. de, & Tenório, J. A. S. (2005). Quantitative characterization of phases present in aluminum drosses through x-ray diffraction. In Proceedings. Warrendale: TMS.
NLM
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Quantitative characterization of phases present in aluminum drosses through x-ray diffraction. Proceedings. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Quantitative characterization of phases present in aluminum drosses through x-ray diffraction. Proceedings. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Trabalho de evento
Caracterización de una escoria blanca de aluminio utilizando el método de rietveld (2005)
Gómez Gómez, Adriana ; Lima, Nelson Batista de ; Tenório, Jorge Alberto Soares
Conference titles: Congreso Internacional de Materiales - Simposio Materia 2005. Unidade: EP
Subjects: ESCÓRIA, DIFRAÇÃO POR RAIOS X
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana e LIMA, Nelson Batista de e TENÓRIO, Jorge Alberto Soares. Caracterización de una escoria blanca de aluminio utilizando el método de rietveld. 2005, Anais.. Cartagena de Indías: Universidad de Antioquia, 2005. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Lima, N. B. de, & Tenório, J. A. S. (2005). Caracterización de una escoria blanca de aluminio utilizando el método de rietveld. In . Cartagena de Indías: Universidad de Antioquia.
NLM
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Caracterización de una escoria blanca de aluminio utilizando el método de rietveld. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Lima NB de, Tenório JAS. Caracterización de una escoria blanca de aluminio utilizando el método de rietveld. 2005 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Trabalho de evento
Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio (2002)
Gómez Gómez, Adriana ; Thomaz, O; Cruz, A. C.; Tenório, Jorge Alberto Soares
Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: ALUMÍNIO, ESCÓRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana et al. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. 2002, Anais.. Natal: PDCEM/CCET/UFRN, 2002. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Thomaz, O., Cruz, A. C., & Tenório, J. A. S. (2002). Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. In . Natal: PDCEM/CCET/UFRN.
NLM
Gómez Gómez A, Thomaz O, Cruz AC, Tenório JAS. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. 2002 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Thomaz O, Cruz AC, Tenório JAS. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. 2002 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Trabalho de evento-resumo
Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio (2002)
Gómez Gómez, Adriana ; Thomaz, O; Cruz, A C; Tenório, Jorge Alberto Soares
Source: CBECIMAT 2002: resumos. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. Unidade: EP
Subjects: ALUMÍNIO, ESCÓRIA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
GÓMEZ GÓMEZ, Adriana et al. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. 2002, Anais.. Natal: PDCEM/CCET/UFRN, 2002. . Acesso em: 12 jun. 2024.
APA
Gómez Gómez, A., Thomaz, O., Cruz, A. C., & Tenório, J. A. S. (2002). Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. In CBECIMAT 2002: resumos. Natal: PDCEM/CCET/UFRN.
NLM
Gómez Gómez A, Thomaz O, Cruz AC, Tenório JAS. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. CBECIMAT 2002: resumos. 2002 ;[citado 2024 jun. 12 ]
Vancouver
Gómez Gómez A, Thomaz O, Cruz AC, Tenório JAS. Relação entre o teor de alumínio e a granulometria de uma escória branca de alumínio. CBECIMAT 2002: resumos. 2002 ;[citado 2024 jun. 12 ]

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