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  • Artigo de periodico

    A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities (2013)

    Gallo, I. B.; Zanatta, Antonio Ricardo

    Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IFSC

    Subjects: FILMES FINOS, ÓPTICA, SILÍCIO

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GALLO, I. B. e ZANATTA, Antonio Ricardo. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, v. 113, n. 8, p. 083106-1-083106-7, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.4793592. Acesso em: 29 maio 2024.

    • APA

      Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2013). A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities. Journal of Applied Physics, 113( 8), 083106-1-083106-7. doi:10.1063/1.4793592

    • NLM

      Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592

    • Vancouver

      Gallo IB, Zanatta AR. A simple-versatile approach to achieve all-Si-based optical micro-cavities [Internet]. Journal of Applied Physics. 2013 ; 113( 8): 083106-1-083106-7.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.4793592

  • Trabalho de evento-resumo

    Defect-mediated excitation of Yb ions in amorphous SiN films (2013)

    Ribeiro, C. T. M.; Gallo, I. B.; Zanatta, Antonio Ricardo; Jahn, U.; Ramsteiner, M.

    Source: Program Book. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidade: IFSC

    Subjects: FILMES FINOS, ITÉRBIO

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RIBEIRO, C. T. M. et al. Defect-mediated excitation of Yb ions in amorphous SiN films. 2013, Anais.. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat, 2013. . Acesso em: 29 maio 2024.

    • APA

      Ribeiro, C. T. M., Gallo, I. B., Zanatta, A. R., Jahn, U., & Ramsteiner, M. (2013). Defect-mediated excitation of Yb ions in amorphous SiN films. In Program Book. Rio de Janeiro: Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat.

    • NLM

      Ribeiro CTM, Gallo IB, Zanatta AR, Jahn U, Ramsteiner M. Defect-mediated excitation of Yb ions in amorphous SiN films. Program Book. 2013 ;[citado 2024 maio 29 ]

    • Vancouver

      Ribeiro CTM, Gallo IB, Zanatta AR, Jahn U, Ramsteiner M. Defect-mediated excitation of Yb ions in amorphous SiN films. Program Book. 2013 ;[citado 2024 maio 29 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    The mechanisms behind the enhancement of the near-infrared light emission due to Er+Yb ions in an optical microcavity (2013)

    Gallo, I. B.; Zanatta, Antonio Ricardo; Braud, A.; Moncorgé, R.

    Source: Livro de Resumos. Conference titles: Semana Integrada do Instituto de Física de São Carlos - SIFSC. Unidade: IFSC

    Subjects: TERRAS RARAS, FOTOLUMINESCÊNCIA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GALLO, I. B. et al. The mechanisms behind the enhancement of the near-infrared light emission due to Er+Yb ions in an optical microcavity. 2013, Anais.. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC, 2013. . Acesso em: 29 maio 2024.

    • APA

      Gallo, I. B., Zanatta, A. R., Braud, A., & Moncorgé, R. (2013). The mechanisms behind the enhancement of the near-infrared light emission due to Er+Yb ions in an optical microcavity. In Livro de Resumos. São Carlos: Universidade de São Paulo - USP, Instituto de Física de São Carlos - IFSC.

    • NLM

      Gallo IB, Zanatta AR, Braud A, Moncorgé R. The mechanisms behind the enhancement of the near-infrared light emission due to Er+Yb ions in an optical microcavity. Livro de Resumos. 2013 ;[citado 2024 maio 29 ]

    • Vancouver

      Gallo IB, Zanatta AR, Braud A, Moncorgé R. The mechanisms behind the enhancement of the near-infrared light emission due to Er+Yb ions in an optical microcavity. Livro de Resumos. 2013 ;[citado 2024 maio 29 ]

  • Artigo de periodico

    Efficient 1535 nm light emission from an all-Si-based optical micro-cavity containing Er3+ and Yb3+ ions (2013)

    Gallo, I. B.; Braud, A.; Zanatta, Antonio Ricardo

    Source: Optics Express. Unidade: IFSC

    Subjects: FILMES FINOS, LUMINESCÊNCIA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GALLO, I. B. e BRAUD, A. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Efficient 1535 nm light emission from an all-Si-based optical micro-cavity containing Er3+ and Yb3+ ions. Optics Express, v. No 2013, n. 23, p. 28394-28402, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1364/OE.21.028394. Acesso em: 29 maio 2024.

    • APA

      Gallo, I. B., Braud, A., & Zanatta, A. R. (2013). Efficient 1535 nm light emission from an all-Si-based optical micro-cavity containing Er3+ and Yb3+ ions. Optics Express, No 2013( 23), 28394-28402. doi:10.1364/OE.21.028394

    • NLM

      Gallo IB, Braud A, Zanatta AR. Efficient 1535 nm light emission from an all-Si-based optical micro-cavity containing Er3+ and Yb3+ ions [Internet]. Optics Express. 2013 ; No 2013( 23): 28394-28402.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1364/OE.21.028394

    • Vancouver

      Gallo IB, Braud A, Zanatta AR. Efficient 1535 nm light emission from an all-Si-based optical micro-cavity containing Er3+ and Yb3+ ions [Internet]. Optics Express. 2013 ; No 2013( 23): 28394-28402.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1364/OE.21.028394

  • Artigo de periodico

    Structural-electronic aspects related to the near-infrared light emission of Fe-doped silicon films (2011)

    Gallo, I. B.; Zanatta, Antonio Ricardo

    Source: Solid State Communications. Unidade: IFSC

    Subjects: ÓPTICA (PROPRIEDADES), FILMES FINOS, EMISSÃO DA LUZ, LUMINESCÊNCIA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      GALLO, I. B. e ZANATTA, Antonio Ricardo. Structural-electronic aspects related to the near-infrared light emission of Fe-doped silicon films. Solid State Communications, v. 151, n. 8, p. 587-590, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.ssc.2011.02.012. Acesso em: 29 maio 2024.

    • APA

      Gallo, I. B., & Zanatta, A. R. (2011). Structural-electronic aspects related to the near-infrared light emission of Fe-doped silicon films. Solid State Communications, 151( 8), 587-590. doi:10.1016/j.ssc.2011.02.012

    • NLM

      Gallo IB, Zanatta AR. Structural-electronic aspects related to the near-infrared light emission of Fe-doped silicon films [Internet]. Solid State Communications. 2011 ; 151( 8): 587-590.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ssc.2011.02.012

    • Vancouver

      Gallo IB, Zanatta AR. Structural-electronic aspects related to the near-infrared light emission of Fe-doped silicon films [Internet]. Solid State Communications. 2011 ; 151( 8): 587-590.[citado 2024 maio 29 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.ssc.2011.02.012
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