Source: Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA-USP, 12. Conference titles: Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA-USP, 12. Unidade: CENA
Subjects: MICROSCOPIA ELETRÔNICA, SOJA
ABNT
OLIVEIRA, L A et al. Teor de silício em plantas de soja por microscopia eletrônica e espectrometria por dispersão em energia. 2006, Anais.. Piracicaba: CENA/USP, 2006. . Acesso em: 23 maio 2024.APA
Oliveira, L. A., Nogueira, N. de L., Rossi, M. L., & Jesus, S. L. (2006). Teor de silício em plantas de soja por microscopia eletrônica e espectrometria por dispersão em energia. In Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA-USP, 12. Piracicaba: CENA/USP,.NLM
Oliveira LA, Nogueira N de L, Rossi ML, Jesus SL. Teor de silício em plantas de soja por microscopia eletrônica e espectrometria por dispersão em energia. Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA-USP, 12. 2006 ;[citado 2024 maio 23 ]Vancouver
Oliveira LA, Nogueira N de L, Rossi ML, Jesus SL. Teor de silício em plantas de soja por microscopia eletrônica e espectrometria por dispersão em energia. Encontro Científico dos Pós-Graduandos no CENA-USP, 12. 2006 ;[citado 2024 maio 23 ]