Source: Resumo. Conference titles: Econtro de Física. Unidade: IF
Assunto: NÊUTRONS
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ABNT
PARENTE, C B R et al. Rietveld analysis of 'BE' IND. 3''AL' IND. 2''('SI''O IND. 3') IND.6' employing high-resolution neutron powder diffraction patterns. 2011, Anais.. Foz do Iguaçu: SBF, 2011. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0467-2.pdf. Acesso em: 23 maio 2024.APA
Parente, C. B. R., Watanabe, W., Mazzocchi, V. L., Mestnik Filho, J., Dias, I. F. L., & Mascarenhas, Y. P. (2011). Rietveld analysis of 'BE' IND. 3''AL' IND. 2''('SI''O IND. 3') IND.6' employing high-resolution neutron powder diffraction patterns. In Resumo. Foz do Iguaçu: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0467-2.pdfNLM
Parente CBR, Watanabe W, Mazzocchi VL, Mestnik Filho J, Dias IFL, Mascarenhas YP. Rietveld analysis of 'BE' IND. 3''AL' IND. 2''('SI''O IND. 3') IND.6' employing high-resolution neutron powder diffraction patterns [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0467-2.pdfVancouver
Parente CBR, Watanabe W, Mazzocchi VL, Mestnik Filho J, Dias IFL, Mascarenhas YP. Rietveld analysis of 'BE' IND. 3''AL' IND. 2''('SI''O IND. 3') IND.6' employing high-resolution neutron powder diffraction patterns [Internet]. Resumo. 2011 ;[citado 2024 maio 23 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enf/2011/sys/resumos/R0467-2.pdf
