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Trabalho de evento-resumo
Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects (2018)
Barros, Felipe; Medina, Nilberto Heder; Added, Nemitala; Aguiar, Vitor Ângelo Paulino de; Silveira, Marcilei A. Guazzelli da
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: ACELERADOR DE PARTÍCULAS, ÍONS PESADOS
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ABNT
BARROS, Felipe et al. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Barros, F., Medina, N. H., Added, N., Aguiar, V. Â. P. de, & Silveira, M. A. G. da. (2018). Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Barros F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Barros F, Medina NH, Added N, Aguiar VÂP de, Silveira MAG da. Variability in the electrical parameters of power devices by total ionizing dose radiation effects [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Trabalho de evento-resumo
Ionizing radiation effects in a rectifier circuit (2018)
Barros, Felipe; Medina, Nilberto Heder; Silveira, Marcilei A. Guazzelli da; Bôas, Alexis Cristiano Vilas
Source: Resumos. Conference titles: Brazilian Meeting on Nuclear Physics. Unidade: IF
Subjects: RADIAÇÃO DE FUNDO, ÍONS PESADOS
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ABNT
BARROS, Felipe et al. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit. 2018, Anais.. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 2018. Disponível em: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Barros, F., Medina, N. H., Silveira, M. A. G. da, & Bôas, A. C. V. (2018). Ionizing radiation effects in a rectifier circuit. In Resumos. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Recuperado de https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
NLM
Barros F, Medina NH, Silveira MAG da, Bôas ACV. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Vancouver
Barros F, Medina NH, Silveira MAG da, Bôas ACV. Ionizing radiation effects in a rectifier circuit [Internet]. Resumos. 2018 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://sec.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xli/programa/trabalhos.asp?sesId=17
Artigo de periodico
Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations (2018)
Silveira, Marcilei A. Guazzelli da; Pereira, Bruno Ribeiro; Medina, Nilberto Heder; Rizzutto, Marcia de Almeida
Source: Journal of Environmental Radioactivity. Unidade: IF
Subjects: FÍSICA NUCLEAR, REAÇÕES NUCLEARES, ASTROFÍSICA NUCLEAR
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ABNT
SILVEIRA, Marcilei A. Guazzelli da et al. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations. Journal of Environmental Radioactivity, v. 189, p. 250-254, 2018Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2018.04.012. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Silveira, M. A. G. da, Pereira, B. R., Medina, N. H., & Rizzutto, M. de A. (2018). Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations. Journal of Environmental Radioactivity, 189, 250-254. doi:10.1016/j.jenvrad.2018.04.012
NLM
Silveira MAG da, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations [Internet]. Journal of Environmental Radioactivity. 2018 ; 189 250-254.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2018.04.012
Vancouver
Silveira MAG da, Pereira BR, Medina NH, Rizzutto M de A. Portable X-ray fluorescence system to measure 'TH' and 'U' concentrations [Internet]. Journal of Environmental Radioactivity. 2018 ; 189 250-254.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2018.04.012
Artigo de periodico
Dynamic distribution of potassium in sugarcane (2013)
Medina, Nilberto Heder ; Branco, Maira L. T.; Silveira, Marcilei A. Guazzelli da; Santos, Roberto Baginski B.
Source: JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY. Unidade: IF
Subjects: RADIOATIVIDADE NATURAL, ESPECTROSCOPIA
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ABNT
MEDINA, Nilberto Heder et al. Dynamic distribution of potassium in sugarcane. JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY, v. 126, n. SI, p. 172-175, 2013Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2013.08.004. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Medina, N. H., Branco, M. L. T., Silveira, M. A. G. da, & Santos, R. B. B. (2013). Dynamic distribution of potassium in sugarcane. JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY, 126( SI), 172-175. doi:10.1016/j.jenvrad.2013.08.004
NLM
Medina NH, Branco MLT, Silveira MAG da, Santos RBB. Dynamic distribution of potassium in sugarcane [Internet]. JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY. 2013 ; 126( SI): 172-175.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2013.08.004
Vancouver
Medina NH, Branco MLT, Silveira MAG da, Santos RBB. Dynamic distribution of potassium in sugarcane [Internet]. JOURNAL OF ENVIRONMENTAL RADIOACTIVITY. 2013 ; 126( SI): 172-175.[citado 2024 maio 24 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jenvrad.2013.08.004
Trabalho de evento-resumo
Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors (2013)
Oliveira, Juliano Alves de; Mello, Marco Antônio Assis de; Silveira, Marcilei A. Guazzelli da; Medina, Nilberto Heder
Source: Resumos. Conference titles: Reunião de Trabalho sobre Física Nuclear no Brasil. Unidade: IF
Assunto: FÍSICA NUCLEAR
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
OLIVEIRA, Juliano Alves de et al. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors. 2013, Anais.. Maresias: SBF, 2013. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf. Acesso em: 24 maio 2024.
APA
Oliveira, J. A. de, Mello, M. A. A. de, Silveira, M. A. G. da, & Medina, N. H. (2013). Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors. In Resumos. Maresias: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf
NLM
Oliveira JA de, Mello MAA de, Silveira MAG da, Medina NH. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors [Internet]. Resumos. 2013 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf
Vancouver
Oliveira JA de, Mello MAA de, Silveira MAG da, Medina NH. Electronic system for data acquisition to study radiation effects on operating MOSFET transistors [Internet]. Resumos. 2013 ;[citado 2024 maio 24 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/rtfnb/xxxvi/sys/resumos/R0016-3.pdf

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