Siqueira, Felipe Tomachevski; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador) 
Subjects: FILMES FINOS, SILÍCIO, TERMOELETRICIDADE
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ABNT
SIQUEIRA, Felipe Tomachevski. Caracterização das propriedades físicas e termoelétricas de filmes Cu-Ni-P obtidos por deposição química sobre silício. 2017. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2017. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-15012018-112841/. Acesso em: 01 jun. 2024.APA
Siqueira, F. T. (2017). Caracterização das propriedades físicas e termoelétricas de filmes Cu-Ni-P obtidos por deposição química sobre silício (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-15012018-112841/NLM
Siqueira FT. Caracterização das propriedades físicas e termoelétricas de filmes Cu-Ni-P obtidos por deposição química sobre silício [Internet]. 2017 ;[citado 2024 jun. 01 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-15012018-112841/Vancouver
Siqueira FT. Caracterização das propriedades físicas e termoelétricas de filmes Cu-Ni-P obtidos por deposição química sobre silício [Internet]. 2017 ;[citado 2024 jun. 01 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-15012018-112841/
