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Tese (Doutorado)
Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício (2008)
Souza Filho, José Cândido de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador)
Unidade: EP
Subjects: ÓPTICA, LASER, ESPALHAMENTO, SILÍCIO
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ABNT
SOUZA FILHO, José Cândido de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício. 2008. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2008. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/. Acesso em: 08 jun. 2024.
APA
Souza Filho, J. C. de. (2008). Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
NLM
Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 jun. 08 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
Vancouver
Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 jun. 08 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/
Trabalho de evento
Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS) (2000)
Souza Filho, José Cândido de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos
Source: SBMicro 2000: proceedings. Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP
Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
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ABNT
SOUZA FILHO, José Cândido de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). 2000, Anais.. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP, 2000. . Acesso em: 08 jun. 2024.
APA
Souza Filho, J. C. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). In SBMicro 2000: proceedings. Manaus: SBMicro/UA/UFRGS/UNICAMP/USP.
NLM
Souza Filho JC de, Santos Filho SG dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2024 jun. 08 ]
Vancouver
Souza Filho JC de, Santos Filho SG dos. Analysis of the surface roughness and surface particle concentration using a new technique: integrated angle resolved LASER scattering (IARLS). SBMicro 2000: proceedings. 2000 ;[citado 2024 jun. 08 ]
Dissertação (Mestrado)
Obtenção da rugosidade RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz laser HeNe (1997)
Souza Filho, José Cândido de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador)
Unidade: EP
Assunto: ENGENHARIA ELÉTRICA
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ABNT
SOUZA FILHO, José Cândido de. Obtenção da rugosidade RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz laser HeNe. 1997. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1997. . Acesso em: 08 jun. 2024.
APA
Souza Filho, J. C. de. (1997). Obtenção da rugosidade RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz laser HeNe (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
NLM
Souza Filho JC de. Obtenção da rugosidade RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz laser HeNe. 1997 ;[citado 2024 jun. 08 ]
Vancouver
Souza Filho JC de. Obtenção da rugosidade RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz laser HeNe. 1997 ;[citado 2024 jun. 08 ]

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