Menu

Filtros : "Santos Filho, Sebastião Gomes dos" Limpar

Filtros

Refine with date range

1 - 20 (135 records)

  • Trabalho de evento

    Use of the charge pumping technique for the evaluation of mosfet degradation due to stress in silicide / polysilicon double layer (1990)

    Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Swart, Jacobus Willibrordus

    Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP

    Subjects: SILÍCIO, SEMICONDUTORES

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SWART, Jacobus Willibrordus. Use of the charge pumping technique for the evaluation of mosfet degradation due to stress in silicide / polysilicon double layer. 1990, Anais.. Campinas: Sbmicro/Spie, 1990. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Santos Filho, S. G. dos, & Swart, J. W. (1990). Use of the charge pumping technique for the evaluation of mosfet degradation due to stress in silicide / polysilicon double layer. In Anais. Campinas: Sbmicro/Spie.

    • NLM

      Santos Filho SG dos, Swart JW. Use of the charge pumping technique for the evaluation of mosfet degradation due to stress in silicide / polysilicon double layer. Anais. 1990 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Santos Filho SG dos, Swart JW. Use of the charge pumping technique for the evaluation of mosfet degradation due to stress in silicide / polysilicon double layer. Anais. 1990 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Tese (Doutorado)

    Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício (2008)

    Souza Filho, José Cândido de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: ÓPTICA, LASER, ESPALHAMENTO, SILÍCIO

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SOUZA FILHO, José Cândido de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício. 2008. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2008. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Souza Filho, J. C. de. (2008). Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/

    • NLM

      Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/

    • Vancouver

      Souza Filho JC de. Uma geometria alternativa para detecção do espalhamento de luz laser por partículas e micro-rugosidades em superfícies de silício [Internet]. 2008 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-30092008-145835/

  • Trabalho de evento

    Temporal evolution of roughness in electroless copper films (2001)

    Hasan, Nasser Mahmoud; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Schwazacher, Walter

    Source: SBMicro 2001: proceedings. Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      HASAN, Nasser Mahmoud e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SCHWAZACHER, Walter. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Hasan, N. M., Santos Filho, S. G. dos, & Schwazacher, W. (2001). Temporal evolution of roughness in electroless copper films. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.

    • NLM

      Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Hasan NM, Santos Filho SG dos, Schwazacher W. Temporal evolution of roughness in electroless copper films. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Relatorio tecnico

    Simulação, funcional e elétrica, de diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa (2000)

    Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Unidade: EP

    Assunto: DIODOS

    PrivadoHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAÚJO, Hugo Puertas de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Simulação, funcional e elétrica, de diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa. . São Paulo: EPUSP. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/41dab8d8-133b-48eb-b151-e026eeeec0e3/1195534.pdf. Acesso em: 23 abr. 2024. , 2000

    • APA

      Araújo, H. P. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2000). Simulação, funcional e elétrica, de diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa. São Paulo: EPUSP. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/41dab8d8-133b-48eb-b151-e026eeeec0e3/1195534.pdf

    • NLM

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulação, funcional e elétrica, de diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa [Internet]. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/41dab8d8-133b-48eb-b151-e026eeeec0e3/1195534.pdf

    • Vancouver

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulação, funcional e elétrica, de diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa [Internet]. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/41dab8d8-133b-48eb-b151-e026eeeec0e3/1195534.pdf

  • Dissertação (Mestrado)

    Simulação e caracterização de diodos controlados por porta visando a fabricação de sensores de radiação luminosa (2000)

    Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA, DIODOS, SENSOR

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAÚJO, Hugo Puertas de. Simulação e caracterização de diodos controlados por porta visando a fabricação de sensores de radiação luminosa. 2000. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2000. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26072017-151052/. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Araújo, H. P. de. (2000). Simulação e caracterização de diodos controlados por porta visando a fabricação de sensores de radiação luminosa (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26072017-151052/

    • NLM

      Araújo HP de. Simulação e caracterização de diodos controlados por porta visando a fabricação de sensores de radiação luminosa [Internet]. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26072017-151052/

    • Vancouver

      Araújo HP de. Simulação e caracterização de diodos controlados por porta visando a fabricação de sensores de radiação luminosa [Internet]. 2000 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-26072017-151052/

  • Trabalho de evento

    Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer (2001)

    Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: SBMicro 2001: proceedings. Conference titles: International Conference on Microelectronics and Packaging. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAÚJO, Hugo Puertas de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. 2001, Anais.. Brasília: SBMicro, 2001. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Araújo, H. P. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2001). Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. In SBMicro 2001: proceedings. Brasília: SBMicro.

    • NLM

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Simulations of an interference birefringent thin film filter used as a narrow-band polarizer. SBMicro 2001: proceedings. 2001 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp (1996)

    Araes, L G; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: [Resumos]. Conference titles: Simposio de Iniciacao Cientifica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAES, L G e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp. 1996, Anais.. Sao Paulo: Usp, 1996. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Araes, L. G., & Santos Filho, S. G. dos. (1996). Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp. In [Resumos]. Sao Paulo: Usp.

    • NLM

      Araes LG, Santos Filho SG dos. Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Araes LG, Santos Filho SG dos. Simulacao numerica dos perfis de temperatura em fornos rtp. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Silicon surface roughening induced by c'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching (1992)

    Yamamoto, R K; Lopes, M C V; Akamine, C T; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin

    Source: Resumos. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP

    Assunto: SEMICONDUTORES

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      YAMAMOTO, R K et al. Silicon surface roughening induced by c'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. 1992, Anais.. Campinas: Unicamp/Cbecimat, 1992. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Yamamoto, R. K., Lopes, M. C. V., Akamine, C. T., Santos Filho, S. G. dos, & Hasenack, C. M. (1992). Silicon surface roughening induced by c'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. In Resumos. Campinas: Unicamp/Cbecimat.

    • NLM

      Yamamoto RK, Lopes MCV, Akamine CT, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Silicon surface roughening induced by c'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. Resumos. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Yamamoto RK, Lopes MCV, Akamine CT, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Silicon surface roughening induced by c'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. Resumos. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento

    Silicon surface roughening induced by c 'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching (1992)

    Yamamoto, R K; Lopes, M C V; Akamine, C T; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin

    Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP

    Subjects: SEMICONDUTORES, PLASMA (MICROELETRÔNICA), SILÍCIO

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      YAMAMOTO, R K et al. Silicon surface roughening induced by c 'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. 1992, Anais.. Campinas: Unicamp, 1992. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Yamamoto, R. K., Lopes, M. C. V., Akamine, C. T., Santos Filho, S. G. dos, & Hasenack, C. M. (1992). Silicon surface roughening induced by c 'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. In Cbecimat: Anais. Campinas: Unicamp.

    • NLM

      Yamamoto RK, Lopes MCV, Akamine CT, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Silicon surface roughening induced by c 'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Yamamoto RK, Lopes MCV, Akamine CT, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Silicon surface roughening induced by c 'BR''F IND.3' plasma during the reactive ion etching. Cbecimat: Anais. 1992 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Dissertação (Mestrado)

    Sensoriamento de misturas de H₂, CH₄ e CO por meio de uma matriz de quimioresistores (2014)

    Moreira, Raphael Garcia; Santos Filho, Sebastião Gomes dos (Orientador)

    Unidade: EP

    Subjects: REDES NEURAIS, GASEIFICAÇÃO, SENSOR

    Acesso à fonteHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MOREIRA, Raphael Garcia. Sensoriamento de misturas de H₂, CH₄ e CO por meio de uma matriz de quimioresistores. 2014. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-13102014-150854/. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Moreira, R. G. (2014). Sensoriamento de misturas de H₂, CH₄ e CO por meio de uma matriz de quimioresistores (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-13102014-150854/

    • NLM

      Moreira RG. Sensoriamento de misturas de H₂, CH₄ e CO por meio de uma matriz de quimioresistores [Internet]. 2014 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-13102014-150854/

    • Vancouver

      Moreira RG. Sensoriamento de misturas de H₂, CH₄ e CO por meio de uma matriz de quimioresistores [Internet]. 2014 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-13102014-150854/

  • Artigo de periodico

    Rapid thermal oxidation of silicon with different thermal annealing cycles in nitrogen: influence on surface microroughness and electrical characteristics (1995)

    Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin; Lopes, M C V; Baranauskas, V

    Source: Semiconductor Science and Technology. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos et al. Rapid thermal oxidation of silicon with different thermal annealing cycles in nitrogen: influence on surface microroughness and electrical characteristics. Semiconductor Science and Technology, v. 10, n. 7 , p. 990-6, 1995Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1088/0268-1242/10/7/015. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Santos Filho, S. G. dos, Hasenack, C. M., Lopes, M. C. V., & Baranauskas, V. (1995). Rapid thermal oxidation of silicon with different thermal annealing cycles in nitrogen: influence on surface microroughness and electrical characteristics. Semiconductor Science and Technology, 10( 7 ), 990-6. doi:10.1088/0268-1242/10/7/015

    • NLM

      Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Lopes MCV, Baranauskas V. Rapid thermal oxidation of silicon with different thermal annealing cycles in nitrogen: influence on surface microroughness and electrical characteristics [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 1995 ;10( 7 ): 990-6.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/10/7/015

    • Vancouver

      Santos Filho SG dos, Hasenack CM, Lopes MCV, Baranauskas V. Rapid thermal oxidation of silicon with different thermal annealing cycles in nitrogen: influence on surface microroughness and electrical characteristics [Internet]. Semiconductor Science and Technology. 1995 ;10( 7 ): 990-6.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1088/0268-1242/10/7/015

  • Artigo de periodico

    Rapid thermal flow of PSG films in vacuum using a graphite heater (1990)

    Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Swart, Jacobus Willibrordus

    Source: Journal of the Electrochemical Society. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e SWART, Jacobus Willibrordus. Rapid thermal flow of PSG films in vacuum using a graphite heater. Journal of the Electrochemical Society, v. 137, n. 4 , p. 1252-5, 1990Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.2086642. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Santos Filho, S. G. dos, & Swart, J. W. (1990). Rapid thermal flow of PSG films in vacuum using a graphite heater. Journal of the Electrochemical Society, 137( 4 ), 1252-5. doi:10.1149/1.2086642

    • NLM

      Santos Filho SG dos, Swart JW. Rapid thermal flow of PSG films in vacuum using a graphite heater [Internet]. Journal of the Electrochemical Society. 1990 ;137( 4 ): 1252-5.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2086642

    • Vancouver

      Santos Filho SG dos, Swart JW. Rapid thermal flow of PSG films in vacuum using a graphite heater [Internet]. Journal of the Electrochemical Society. 1990 ;137( 4 ): 1252-5.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2086642

  • Trabalho de evento

    Projeto e caracterizacao de um sistema rie e sua aplicacao na corrosao de tungstenio sobre 'GA''AS' (1993)

    Ramos, A C; Swart, Jacobus Willibrordus; Tatsch, P J; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Ribeiro, E; Prince, F

    Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      RAMOS, A C et al. Projeto e caracterizacao de um sistema rie e sua aplicacao na corrosao de tungstenio sobre 'GA''AS'. 1993, Anais.. Campinas: Sbmicro, 1993. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Ramos, A. C., Swart, J. W., Tatsch, P. J., Santos Filho, S. G. dos, Ribeiro, E., & Prince, F. (1993). Projeto e caracterizacao de um sistema rie e sua aplicacao na corrosao de tungstenio sobre 'GA''AS'. In Anais. Campinas: Sbmicro.

    • NLM

      Ramos AC, Swart JW, Tatsch PJ, Santos Filho SG dos, Ribeiro E, Prince F. Projeto e caracterizacao de um sistema rie e sua aplicacao na corrosao de tungstenio sobre 'GA''AS'. Anais. 1993 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Ramos AC, Swart JW, Tatsch PJ, Santos Filho SG dos, Ribeiro E, Prince F. Projeto e caracterizacao de um sistema rie e sua aplicacao na corrosao de tungstenio sobre 'GA''AS'. Anais. 1993 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Artigo de periodico

    Projeto de um inversor básico de uma tecnologia NMOS com carga em depleção (1987)

    Martino, João Antonio ; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: Revista Pesquisa e Tecnologia Fei. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      MARTINO, João Antonio e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Projeto de um inversor básico de uma tecnologia NMOS com carga em depleção. Revista Pesquisa e Tecnologia Fei, n. 7 , p. 10-9, 1987Tradução . . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Martino, J. A., & Santos Filho, S. G. dos. (1987). Projeto de um inversor básico de uma tecnologia NMOS com carga em depleção. Revista Pesquisa e Tecnologia Fei, (7 ), 10-9.

    • NLM

      Martino JA, Santos Filho SG dos. Projeto de um inversor básico de uma tecnologia NMOS com carga em depleção. Revista Pesquisa e Tecnologia Fei. 1987 ;(7 ): 10-9.[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Martino JA, Santos Filho SG dos. Projeto de um inversor básico de uma tecnologia NMOS com carga em depleção. Revista Pesquisa e Tecnologia Fei. 1987 ;(7 ): 10-9.[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento-resumo

    Processo simples para construcao de celulas solares de silicio (1996)

    Araujo, H P; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: [Resumos]. Conference titles: Simposio de Iniciacao Cientifica da Universidade de São Paulo. Unidade: EP

    Assunto: MATERIAIS ELETRÔNICOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAUJO, H P e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Processo simples para construcao de celulas solares de silicio. 1996, Anais.. Sao Paulo: Usp, 1996. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Araujo, H. P., & Santos Filho, S. G. dos. (1996). Processo simples para construcao de celulas solares de silicio. In [Resumos]. Sao Paulo: Usp.

    • NLM

      Araujo HP, Santos Filho SG dos. Processo simples para construcao de celulas solares de silicio. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Araujo HP, Santos Filho SG dos. Processo simples para construcao de celulas solares de silicio. [Resumos]. 1996 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento

    Processo de limpeza para laminas de silicio (1994)

    Leite, N G; Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin

    Source: Cbecimat: Anais. Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais. Unidade: EP

    Assunto: SEMICONDUTORES

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      LEITE, N G e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e HASENACK, Claus Martin. Processo de limpeza para laminas de silicio. 1994, Anais.. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Leite, N. G., Santos Filho, S. G. dos, & Hasenack, C. M. (1994). Processo de limpeza para laminas de silicio. In Cbecimat: Anais. Sao Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt.

    • NLM

      Leite NG, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Processo de limpeza para laminas de silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Leite NG, Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Processo de limpeza para laminas de silicio. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 23 ]

  • Artigo de periodico

    Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations (2010)

    Cardoso, Juliana Lopes; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: Journal of Integrated Circuits and Systems. Unidade: EP

    Subjects: ELETROQUÍMICA, CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      CARDOSO, Juliana Lopes e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations. Journal of Integrated Circuits and Systems, v. 5, n. 2, p. 95-102, 2010Tradução . . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Cardoso, J. L., & Santos Filho, S. G. dos. (2010). Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations. Journal of Integrated Circuits and Systems, 5( 2), 95-102.

    • NLM

      Cardoso JL, Santos Filho SG dos. Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2010 ;5( 2): 95-102.[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Cardoso JL, Santos Filho SG dos. Potentiostatic electrodeposition of Au-Sn alloys from a non-cyanide bath for soldering: influence of reagents concentrations. Journal of Integrated Circuits and Systems. 2010 ;5( 2): 95-102.[citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento

    Post-silicidation annealing effects on electrical and structural properties of NiPt germanosilicide (2008)

    Eleotério, Marcos; Doi, Ioshiaki; Figueroa, Robinson; Diniz, José Alexandre; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: SBMICRO 2008: Anais. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices SBMICRO. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ELEOTÉRIO, Marcos et al. Post-silicidation annealing effects on electrical and structural properties of NiPt germanosilicide. 2008, Anais.. Pennington: The Electrochemical Society, 2008. Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.2956053. Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Eleotério, M., Doi, I., Figueroa, R., Diniz, J. A., & Santos Filho, S. G. dos. (2008). Post-silicidation annealing effects on electrical and structural properties of NiPt germanosilicide. In SBMICRO 2008: Anais. Pennington: The Electrochemical Society. doi:10.1149/1.2956053

    • NLM

      Eleotério M, Doi I, Figueroa R, Diniz JA, Santos Filho SG dos. Post-silicidation annealing effects on electrical and structural properties of NiPt germanosilicide [Internet]. SBMICRO 2008: Anais. 2008 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2956053

    • Vancouver

      Eleotério M, Doi I, Figueroa R, Diniz JA, Santos Filho SG dos. Post-silicidation annealing effects on electrical and structural properties of NiPt germanosilicide [Internet]. SBMICRO 2008: Anais. 2008 ;[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.2956053

  • Parte de monografia/livro

    Polarization-difference imaging technique for material characterization: algorithm and some applications (2002)

    Araújo, Hugo Puertas de; Santos Filho, Sebastião Gomes dos

    Source: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      ARAÚJO, Hugo Puertas de e SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos. Polarization-difference imaging technique for material characterization: algorithm and some applications. Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Tradução . Pennington: The Electrochemical Society, 2002. . . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Araújo, H. P. de, & Santos Filho, S. G. dos. (2002). Polarization-difference imaging technique for material characterization: algorithm and some applications. In Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society.

    • NLM

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Polarization-difference imaging technique for material characterization: algorithm and some applications. In: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society; 2002. [citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Araújo HP de, Santos Filho SG dos. Polarization-difference imaging technique for material characterization: algorithm and some applications. In: Microelectronics Technology and Devices SBMICRO 2002. Pennington: The Electrochemical Society; 2002. [citado 2024 abr. 23 ]

  • Trabalho de evento

    Plating mechanisms of cooper onto silicon surfaces diluted hydrofluoric solutions (1995)

    Santos Filho, Sebastião Gomes dos ; Hasenack, Claus Martin

    Source: Proceedings. Conference titles: Congress of the Brazilian Microelectronics Society. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

    How to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      SANTOS FILHO, Sebastião Gomes dos e HASENACK, Claus Martin. Plating mechanisms of cooper onto silicon surfaces diluted hydrofluoric solutions. 1995, Anais.. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995. . Acesso em: 23 abr. 2024.

    • APA

      Santos Filho, S. G. dos, & Hasenack, C. M. (1995). Plating mechanisms of cooper onto silicon surfaces diluted hydrofluoric solutions. In Proceedings. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs.

    • NLM

      Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Plating mechanisms of cooper onto silicon surfaces diluted hydrofluoric solutions. Proceedings. 1995 ;[citado 2024 abr. 23 ]

    • Vancouver

      Santos Filho SG dos, Hasenack CM. Plating mechanisms of cooper onto silicon surfaces diluted hydrofluoric solutions. Proceedings. 1995 ;[citado 2024 abr. 23 ]

1 - 20 (135 records)

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2024