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  • Artigo de periodico

    Analysis of the dielectric behavior of distribution insulators under non-standard lightning impulses voltages (2011)

    Braz, Celso Pereira; Piantini, Alexandre

    Source: IEEE Latin America Tranasactions. Unidade: IEE

    Assunto: SISTEMAS ELÉTRICOS DE POTÊNCIA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      BRAZ, Celso Pereira e PIANTINI, Alexandre. Analysis of the dielectric behavior of distribution insulators under non-standard lightning impulses voltages. IEEE Latin America Tranasactions, v. 9, n. 5, p. Se 2011, 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030983. Acesso em: 03 jun. 2024.

    • APA

      Braz, C. P., & Piantini, A. (2011). Analysis of the dielectric behavior of distribution insulators under non-standard lightning impulses voltages. IEEE Latin America Tranasactions, 9(5), Se 2011. doi:10.1109/tla.2011.6030983

    • NLM

      Braz CP, Piantini A. Analysis of the dielectric behavior of distribution insulators under non-standard lightning impulses voltages [Internet]. IEEE Latin America Tranasactions. 2011 ;9(5): Se 2011.[citado 2024 jun. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030983

    • Vancouver

      Braz CP, Piantini A. Analysis of the dielectric behavior of distribution insulators under non-standard lightning impulses voltages [Internet]. IEEE Latin America Tranasactions. 2011 ;9(5): Se 2011.[citado 2024 jun. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030983

  • Artigo de periodico

    Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement (2011)

    Kanashiro, Arnaldo Gakiya; Zanotti Junior, Milton; Obase, Paulo Futoshi; Bacega, Wilson Roberto

    Source: IEEE Latin America Tranasactions. Unidade: IEE

    Assunto: SISTEMAS ELÉTRICOS DE POTÊNCIA

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas

    • ABNT

      KANASHIRO, Arnaldo Gakiya et al. Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement. IEEE Latin America Tranasactions, v. 9, n. 5, p. Se 2011., 2011Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030987. Acesso em: 03 jun. 2024.

    • APA

      Kanashiro, A. G., Zanotti Junior, M., Obase, P. F., & Bacega, W. R. (2011). Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement. IEEE Latin America Tranasactions, 9( 5), Se 2011. doi:10.1109/tla.2011.6030987

    • NLM

      Kanashiro AG, Zanotti Junior M, Obase PF, Bacega WR. Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement [Internet]. IEEE Latin America Tranasactions. 2011 ;9( 5): Se 2011.[citado 2024 jun. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030987

    • Vancouver

      Kanashiro AG, Zanotti Junior M, Obase PF, Bacega WR. Diagnostic of silicon carbide surge arresters using leakage current measurement [Internet]. IEEE Latin America Tranasactions. 2011 ;9( 5): Se 2011.[citado 2024 jun. 03 ] Available from: https://doi.org/10.1109/tla.2011.6030987
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