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  • Source: Program. Conference titles: Encontro da SBPMat. Unidades: IF, EP

    Subjects: MATERIAIS, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X

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    • ABNT

      CRIADO, Denise et al. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. 2004, Anais.. São Carlos: SBPMat, 2004. Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Pereyra, I., & Fantini, M. C. de A. (2004). Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films. In Program. São Carlos: SBPMat. Recuperado de http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • NLM

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
    • Vancouver

      Criado D, Alayo Chávez MI, Pereyra I, Fantini MC de A. Xanes characterization in PECVD-SiOxNy films [Internet]. Program. 2004 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.sbpmat.org.br/3meeting/simposio_b.pdf
  • Conference titles: Brazilian School on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP

    Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, SEMICONDUTORES, DIFRAÇÃO POR RAIOS X

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    • ABNT

      FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu et al. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992, Anais.. Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo, 1992. . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Fantini, M. C. de A., SANTOS, P. V., Pereyra, I., & Páez Carreño, M. N. (1992). X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. In . Cingapura: Instituto de Física, Universidade de São Paulo.
    • NLM

      Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Fantini MC de A, SANTOS PV, Pereyra I, Páez Carreño MN. X-Ray Reflectivity of Amorphous Multi Layers: Interface Modeling. 1992 ;[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidade: EP

    Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS

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    • ABNT

      PEREYRA, Inés e PAEZ CARREÑO, Marcelo Nelson. Wide gap a-Sil-Cx:H thin films obtained under starving plasm deposition conditions. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 201, n. ju 1996, p. 110-118, 1996Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0022-3093(96)00131-7. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Pereyra, I., & Paez Carreño, M. N. (1996). Wide gap a-Sil-Cx:H thin films obtained under starving plasm deposition conditions. Journal of Non-Crystalline Solids, 201( ju 1996), 110-118. doi:10.1016/0022-3093(96)00131-7
    • NLM

      Pereyra I, Paez Carreño MN. Wide gap a-Sil-Cx:H thin films obtained under starving plasm deposition conditions [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 1996 ; 201( ju 1996): 110-118.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0022-3093(96)00131-7
    • Vancouver

      Pereyra I, Paez Carreño MN. Wide gap a-Sil-Cx:H thin films obtained under starving plasm deposition conditions [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 1996 ; 201( ju 1996): 110-118.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0022-3093(96)00131-7
  • Source: Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. Unidades: EP, IEE

    Assunto: ELETROQUÍMICA

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    • ABNT

      CAVALLARI, Marco Roberto et al. Voltage-dependent mobility characterization of MDMO-PPV thin-film transistors for flexible sensor applications. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, v. 31, n. 1, p. 425-432, 2010Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1149/1.3474188. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Cavallari, M. R., Albertin, K. F., Santos, G. dos, Ramos, C. A. S., Pereyra, I., Fonseca, F. J., & Andrade, A. M. de. (2010). Voltage-dependent mobility characterization of MDMO-PPV thin-film transistors for flexible sensor applications. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010, 31( 1), 425-432. doi:10.1149/1.3474188
    • NLM

      Cavallari MR, Albertin KF, Santos G dos, Ramos CAS, Pereyra I, Fonseca FJ, Andrade AM de. Voltage-dependent mobility characterization of MDMO-PPV thin-film transistors for flexible sensor applications [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 425-432.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474188
    • Vancouver

      Cavallari MR, Albertin KF, Santos G dos, Ramos CAS, Pereyra I, Fonseca FJ, Andrade AM de. Voltage-dependent mobility characterization of MDMO-PPV thin-film transistors for flexible sensor applications [Internet]. Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2010. 2010 ;31( 1): 425-432.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1149/1.3474188
  • Unidade: EP

    Assunto: CÉLULAS SOLARES

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    • ABNT

      BELOTO, Antonio Fernando. Técnicas para a otimização de células solares de uso espacial. 1989. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1989. . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Beloto, A. F. (1989). Técnicas para a otimização de células solares de uso espacial (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Beloto AF. Técnicas para a otimização de células solares de uso espacial. 1989 ;[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Beloto AF. Técnicas para a otimização de células solares de uso espacial. 1989 ;[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Anais. Conference titles: Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica. Unidades: IEE, EP

    Subjects: FILMES FINOS, TRANSISTORES, SILÍCIO

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    • ABNT

      ANDRADE, Adnei Melges de et al. Transistores de filmes finos de silicio amorfo com estrutura 'NI''CR' / 'SI'-a: h (n+) / 'SI'-a : h'SI''N IND.X'-a : h / 'NI''CR' sobre substratos de vidro. 1989, Anais.. Porto Alegre: Sbmicro/Ufrgs, 1989. . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Andrade, A. M. de, Andrade, C. A. M. de, Fonseca, F. J., Pereyra, I., & Sanematsu, M. S. (1989). Transistores de filmes finos de silicio amorfo com estrutura 'NI''CR' / 'SI'-a: h (n+) / 'SI'-a : h'SI''N IND.X'-a : h / 'NI''CR' sobre substratos de vidro. In Anais. Porto Alegre: Sbmicro/Ufrgs.
    • NLM

      Andrade AM de, Andrade CAM de, Fonseca FJ, Pereyra I, Sanematsu MS. Transistores de filmes finos de silicio amorfo com estrutura 'NI''CR' / 'SI'-a: h (n+) / 'SI'-a : h'SI''N IND.X'-a : h / 'NI''CR' sobre substratos de vidro. Anais. 1989 ;[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Andrade AM de, Andrade CAM de, Fonseca FJ, Pereyra I, Sanematsu MS. Transistores de filmes finos de silicio amorfo com estrutura 'NI''CR' / 'SI'-a: h (n+) / 'SI'-a : h'SI''N IND.X'-a : h / 'NI''CR' sobre substratos de vidro. Anais. 1989 ;[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Revista Brasileira de Aplicacoes de Vacuo. Unidade: EP

    Assunto: CÉLULAS SOLARES

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    • ABNT

      KOMAZAWA, A et al. Transistores de filme fino de a-'SI': h / a-'SI'c : h. Revista Brasileira de Aplicacoes de Vacuo, v. 9 , n. 1 , p. 7-10, 1990Tradução . . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Komazawa, A., Páez Carreño, M. N., Andrade, A. M. de, & Pereyra, I. (1990). Transistores de filme fino de a-'SI': h / a-'SI'c : h. Revista Brasileira de Aplicacoes de Vacuo, 9 ( 1 ), 7-10.
    • NLM

      Komazawa A, Páez Carreño MN, Andrade AM de, Pereyra I. Transistores de filme fino de a-'SI': h / a-'SI'c : h. Revista Brasileira de Aplicacoes de Vacuo. 1990 ;9 ( 1 ): 7-10.[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Komazawa A, Páez Carreño MN, Andrade AM de, Pereyra I. Transistores de filme fino de a-'SI': h / a-'SI'c : h. Revista Brasileira de Aplicacoes de Vacuo. 1990 ;9 ( 1 ): 7-10.[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Microelectronics technology and devices, SBMicro. Conference titles: International Symposium on Microelectronics Technology and Devices. Unidade: EP

    Assunto: MICROELETRÔNICA

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    • ABNT

      FRAGA, Tiago Marques e ALBERTIN, Katia Franklin e PEREYRA, Inés. TiO2 nanotubes production and characterization. 2012, Anais.. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, 2012. Disponível em: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Fraga, T. M., Albertin, K. F., & Pereyra, I. (2012). TiO2 nanotubes production and characterization. In Microelectronics technology and devices, SBMicro. Pennington: Escola Politécnica, Universidade de São Paulo. doi:10.1149/04901.0199ecst
    • NLM

      Fraga TM, Albertin KF, Pereyra I. TiO2 nanotubes production and characterization [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst
    • Vancouver

      Fraga TM, Albertin KF, Pereyra I. TiO2 nanotubes production and characterization [Internet]. Microelectronics technology and devices, SBMicro. 2012 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1149/04901.0199ecst
  • Source: Materials Science Forum. Unidades: IF, EP

    Assunto: SEMICONDUTORES

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    • ABNT

      PRADO, Rogerio Junqueira et al. Thin films of a-'Si IND.1-X''C IND.X':H deposited by PECVD: the r.f. power and 'H IND.2' dilution role. Materials Science Forum, v. 338-342, n. 1, p. 329-332, 2000Tradução . . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Tabacniks, M. H., Pereyra, I., & Flank, A. M. (2000). Thin films of a-'Si IND.1-X''C IND.X':H deposited by PECVD: the r.f. power and 'H IND.2' dilution role. Materials Science Forum, 338-342( 1), 329-332.
    • NLM

      Prado RJ, Fantini MC de A, Tabacniks MH, Pereyra I, Flank AM. Thin films of a-'Si IND.1-X''C IND.X':H deposited by PECVD: the r.f. power and 'H IND.2' dilution role. Materials Science Forum. 2000 ; 338-342( 1): 329-332.[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Prado RJ, Fantini MC de A, Tabacniks MH, Pereyra I, Flank AM. Thin films of a-'Si IND.1-X''C IND.X':H deposited by PECVD: the r.f. power and 'H IND.2' dilution role. Materials Science Forum. 2000 ; 338-342( 1): 329-332.[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Physical Review B. Unidades: IF, EP

    Subjects: ESTRUTURA ATÔMICA (FÍSICA MODERNA), MÉTODO DE MONTE CARLO

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      SCOPEL, Wanderla Luis et al. Theoretical and experimental studies of the atomic structure of oxygen-rich amorphous silicon oxynitride films. Physical Review B, v. 68, n. 15, p. 155332/1-155332/6, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/physrevb.68.155332. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Scopel, W. L., Silva, A. J. R. da, Orellana, W. M., Prado, R. J., Fantini, M. C. de A., Fazzio, A., & Pereyra, I. (2003). Theoretical and experimental studies of the atomic structure of oxygen-rich amorphous silicon oxynitride films. Physical Review B, 68( 15), 155332/1-155332/6. doi:10.1103/physrevb.68.155332
    • NLM

      Scopel WL, Silva AJR da, Orellana WM, Prado RJ, Fantini MC de A, Fazzio A, Pereyra I. Theoretical and experimental studies of the atomic structure of oxygen-rich amorphous silicon oxynitride films [Internet]. Physical Review B. 2003 ; 68( 15): 155332/1-155332/6.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.68.155332
    • Vancouver

      Scopel WL, Silva AJR da, Orellana WM, Prado RJ, Fantini MC de A, Fazzio A, Pereyra I. Theoretical and experimental studies of the atomic structure of oxygen-rich amorphous silicon oxynitride films [Internet]. Physical Review B. 2003 ; 68( 15): 155332/1-155332/6.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.68.155332
  • Source: Proceedings Science BWSP. Conference titles: Brazilian Workshop on Semiconductor Physics. Unidades: IF, EP

    Subjects: CRISTALOGRAFIA FÍSICA, FILMES FINOS, ESPECTROSCOPIA DE RAIO X

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      CASSIMIRO, Vinicius Roberto de Sylos et al. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. Disponível em: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051. Acesso em: 18 abr. 2024. , 2017
    • APA

      Cassimiro, V. R. de S., Fantini, M. C. de A., Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., Alayo Chávez, M. I., Rehder, G. P., et al. (2017). The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization. Proceedings Science BWSP. São Paulo: Instituto de Física, Universidade de São Paulo. doi:10.17648/bwsp-2017-70051
    • NLM

      Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
    • Vancouver

      Cassimiro VR de S, Fantini MC de A, Pereyra I, Páez Carreño MN, Alayo Chávez MI, Rehder GP, Cunha Junior RM, Trcera N. The structural properties of the protective layer of microlamps under polarization [Internet]. Proceedings Science BWSP. 2017 ; 1 4 .[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.17648/bwsp-2017-70051
  • Source: Surface Science. Unidade: EP

    Assunto: CÉLULAS SOLARES

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    • ABNT

      PEREYRA, Inés e PÁEZ CARREÑO, Marcelo Nelson e ANDRADE, Adnei Melges de. Tfts an a sicx: h insulator layer. Surface Science. Tradução . Berlin: Springer, 1991. . . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Pereyra, I., Páez Carreño, M. N., & Andrade, A. M. de. (1991). Tfts an a sicx: h insulator layer. In Surface Science. Berlin: Springer.
    • NLM

      Pereyra I, Páez Carreño MN, Andrade AM de. Tfts an a sicx: h insulator layer. In: Surface Science. Berlin: Springer; 1991. [citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Pereyra I, Páez Carreño MN, Andrade AM de. Tfts an a sicx: h insulator layer. In: Surface Science. Berlin: Springer; 1991. [citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Revista Brasileira de Aplicacao de Vacuo. Unidade: EP

    Assunto: CÉLULAS SOLARES

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    • ABNT

      BELOTO, Antonio Fernando e PEREYRA, Inés. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. Revista Brasileira de Aplicacao de Vacuo, v. 9 , n. 2 , p. 24-6, 1990Tradução . . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Beloto, A. F., & Pereyra, I. (1990). Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. Revista Brasileira de Aplicacao de Vacuo, 9 ( 2 ), 24-6.
    • NLM

      Beloto AF, Pereyra I. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. Revista Brasileira de Aplicacao de Vacuo. 1990 ;9 ( 2 ): 24-6.[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Beloto AF, Pereyra I. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. Revista Brasileira de Aplicacao de Vacuo. 1990 ;9 ( 2 ): 24-6.[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Contribuicoes a Engenharia de Eletricidade. Unidade: EP

    Assunto: CÉLULAS SOLARES

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    • ABNT

      BELOTO, Antonio Fernando e PEREYRA, Inés. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. Contribuicoes a Engenharia de Eletricidade. Tradução . Sao Paulo: Epusp, 1989. . . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Beloto, A. F., & Pereyra, I. (1989). Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. In Contribuicoes a Engenharia de Eletricidade. Sao Paulo: Epusp.
    • NLM

      Beloto AF, Pereyra I. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. In: Contribuicoes a Engenharia de Eletricidade. Sao Paulo: Epusp; 1989. [citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Beloto AF, Pereyra I. Tecnicas de obtencao de juncoes rasas visando a fabricacao de celulas solares de uso espacial. In: Contribuicoes a Engenharia de Eletricidade. Sao Paulo: Epusp; 1989. [citado 2024 abr. 18 ]
  • Unidade: EP

    Subjects: NANOPARTÍCULAS, CATÁLISE, NANOTECNOLOGIA, PLASMA (MICROELETRÔNICA)

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    • ABNT

      LOPEZ SILVA, Diego Edison. Síntese e caracterização de nanotubos de carbono mediante as técnicas de CVD e PECVD. 2016. Tese (Doutorado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2016. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-18012017-150102/. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Lopez Silva, D. E. (2016). Síntese e caracterização de nanotubos de carbono mediante as técnicas de CVD e PECVD (Tese (Doutorado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-18012017-150102/
    • NLM

      Lopez Silva DE. Síntese e caracterização de nanotubos de carbono mediante as técnicas de CVD e PECVD [Internet]. 2016 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-18012017-150102/
    • Vancouver

      Lopez Silva DE. Síntese e caracterização de nanotubos de carbono mediante as técnicas de CVD e PECVD [Internet]. 2016 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-18012017-150102/
  • Unidade: EP

    Subjects: ESPECTROSCOPIA RAMAN, MATERIAIS NANOESTRUTURADOS, CARBONO, FILMES FINOS

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    • ABNT

      FERIA GARNICA, Deissy Johanna. Síntese e caracterização de grafeno por CVD catalítico em filmes finos de Ni e Cu. 2017. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2017. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-08012018-105347/. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Feria Garnica, D. J. (2017). Síntese e caracterização de grafeno por CVD catalítico em filmes finos de Ni e Cu (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-08012018-105347/
    • NLM

      Feria Garnica DJ. Síntese e caracterização de grafeno por CVD catalítico em filmes finos de Ni e Cu [Internet]. 2017 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-08012018-105347/
    • Vancouver

      Feria Garnica DJ. Síntese e caracterização de grafeno por CVD catalítico em filmes finos de Ni e Cu [Internet]. 2017 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-08012018-105347/
  • Unidade: EP

    Assunto: NANOTECNOLOGIA

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    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      ABE, Igor Yamamoto. Síntese de nanotubos de carbono pela técnica de deposição química a vapor. 2014. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-24042015-152437/. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Abe, I. Y. (2014). Síntese de nanotubos de carbono pela técnica de deposição química a vapor (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-24042015-152437/
    • NLM

      Abe IY. Síntese de nanotubos de carbono pela técnica de deposição química a vapor [Internet]. 2014 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-24042015-152437/
    • Vancouver

      Abe IY. Síntese de nanotubos de carbono pela técnica de deposição química a vapor [Internet]. 2014 ;[citado 2024 abr. 18 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-24042015-152437/
  • Unidade: EP

    Assunto: SILÍCIO

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    • ABNT

      PÁEZ CARREÑO, Marcelo Nelson. Super-redes de silício amorfo. 1988. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Paulo, 1988. . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Páez Carreño, M. N. (1988). Super-redes de silício amorfo (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Paulo.
    • NLM

      Páez Carreño MN. Super-redes de silício amorfo. 1988 ;[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Páez Carreño MN. Super-redes de silício amorfo. 1988 ;[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Abstracts. Conference titles: Brazilian MRS Meeting. Unidades: IF, EP

    Assunto: MATERIAIS

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    • ABNT

      ALBERTIN, Katia Franklin e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu e PEREYRA, Inés. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. 2006, Anais.. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais, 2006. . Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Albertin, K. F., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. In Abstracts. Florianópolis: SBPMat - Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais.
    • NLM

      Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 abr. 18 ]
    • Vancouver

      Albertin KF, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the structural properties of the PECVD SiOxNy dielectric layers obtained with different RF powers by XANES and EXAFS analysis. Abstracts. 2006 ;[citado 2024 abr. 18 ]
  • Source: Journal of non-crystalline solids. Unidades: IF, EP

    Subjects: DIFRAÇÃO POR RAIOS X, ESTRUTURA DOS SÓLIDOS, FILMES FINOS

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
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    • ABNT

      CRIADO, Denise et al. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, v. 352, n. 23-25, p. 2319-2323, 2006Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012. Acesso em: 18 abr. 2024.
    • APA

      Criado, D., Alayo Chávez, M. I., Fantini, M. C. de A., & Pereyra, I. (2006). Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications. Journal of non-crystalline solids, 352( 23-25), 2319-2323. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
    • NLM

      Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012
    • Vancouver

      Criado D, Alayo Chávez MI, Fantini MC de A, Pereyra I. Study of the mechanical and structural properties of silicon oxynitride films for optical applications [Internet]. Journal of non-crystalline solids. 2006 ; 352( 23-25): 2319-2323.[citado 2024 abr. 18 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2006.03.012

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