Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure (2003)
Fonte: Resumos. Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26. Unidade: IF
Assunto: FILMES FINOS
ABNT
ESCOTE, M T et al. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. 2003, Anais.. São Paulo: SBF, 2003. . Acesso em: 24 abr. 2024.APA
Escote, M. T., Pontes, F. M., Leite, E. R., Longo, E., & Jardim, R. F. (2003). Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. In Resumos. São Paulo: SBF.NLM
Escote MT, Pontes FM, Leite ER, Longo E, Jardim RF. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 24 ]Vancouver
Escote MT, Pontes FM, Leite ER, Longo E, Jardim RF. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 24 ]