Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria (1994)
- Autores:
- Autores USP: GALEAZZO, ELISABETE - EP ; FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Ifusp/Epusp/Ipt
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1994
- Fonte:
- Título do periódico: Cbecimat: Anais
- Nome do evento: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais
-
ABNT
GALEAZZO, Elisabete et al. Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 16 abr. 2024. -
APA
Galeazzo, E., Ramírez Fernandez, F. J., Salcedo, W. J., & Tubor, A. (1994). Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt. -
NLM
Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ, Salcedo WJ, Tubor A. Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 16 ] -
Vancouver
Galeazzo E, Ramírez Fernandez FJ, Salcedo WJ, Tubor A. Contribuicao a caracterizacao da formacao de silicio poroso por tecnicas de gravimetria. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 16 ] - Structural characterization of photoluminescent porous silicon
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