Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso (1994)
- Autores:
- Autores USP: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMÍREZ - EP ; SALCEDO, WALTER JAIMES - EP
- Unidade: EP
- Assunto: SEMICONDUTORES
- Idioma: Português
- Imprenta:
- Editora: Ifusp/Epusp/Ipt
- Local: São Paulo
- Data de publicação: 1994
- Fonte:
- Título do periódico: Cbecimat: Anais
- Nome do evento: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais
-
ABNT
SALCEDO, Walter Jaimes e RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. 1994, Anais.. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt, 1994. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Salcedo, W. J., & Ramírez Fernandez, F. J. (1994). Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. In Cbecimat: Anais. São Paulo: Ifusp/Epusp/Ipt. -
NLM
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Salcedo WJ, Ramírez Fernandez FJ. Caracterizacao do envelhecimento de filmes de silicio poroso. Cbecimat: Anais. 1994 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Self-assembled polystyrene micro-spheres applied for photonic crystals and templates fabrication
- Photonic band structure of periodic-like porous silicon
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