Quantitative analysis of 'AS' and 'SB' pipe diffusion along misfit dislocation in epitaxial 'SI' / 'SI' (ge) (1995)
- Autores:
- Autores USP: BRAGA, NELSON LIEBENTRITT DE ALMEIDA - EP ; ZASNICOFF, LUIZ SERGIO - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Editora: Instituto de Informatica da Ufrgs
- Local: Porto Alegre
- Data de publicação: 1995
- Fonte:
- Título do periódico: Proceedings
- Nome do evento: Congress of the Brazilian Microelectronics Society
-
ABNT
BRAGA, Nelson Liebentritt de Almeida e ZASNICOFF, Luiz Sergio. Quantitative analysis of 'AS' and 'SB' pipe diffusion along misfit dislocation in epitaxial 'SI' / 'SI' (ge). 1995, Anais.. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs, 1995. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Braga, N. L. de A., & Zasnicoff, L. S. (1995). Quantitative analysis of 'AS' and 'SB' pipe diffusion along misfit dislocation in epitaxial 'SI' / 'SI' (ge). In Proceedings. Porto Alegre: Instituto de Informatica da Ufrgs. -
NLM
Braga NL de A, Zasnicoff LS. Quantitative analysis of 'AS' and 'SB' pipe diffusion along misfit dislocation in epitaxial 'SI' / 'SI' (ge). Proceedings. 1995 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Braga NL de A, Zasnicoff LS. Quantitative analysis of 'AS' and 'SB' pipe diffusion along misfit dislocation in epitaxial 'SI' / 'SI' (ge). Proceedings. 1995 ;[citado 2024 abr. 23 ] - Lattice heating and energy balance consideration on the i-v characteristics of submicrometer thin-film fully depleted soi nmos devices
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