Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability (1997)
- Autores:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Journal of Non-Crystalline Solids
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 209, p. 175-187, 1997
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ABNT
ZEBALLOS-VELASQUEZ, E L e FANTINI, Márcia Carvalho de Abreu. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 209, p. 175-187, 1997Tradução . . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Zeballos-Velasquez, E. L., & Fantini, M. C. de A. (1997). Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids, 209, 175-187. -
NLM
Zeballos-Velasquez EL, Fantini MC de A. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids. 1997 ; 209 175-187.[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
Zeballos-Velasquez EL, Fantini MC de A. Small angle x-ray diffraction study of a-si: h / a-ge : h multilayers : reflectivity modeling and thermal stability. Journal of Non-Crystalline Solids. 1997 ; 209 175-187.[citado 2024 abr. 23 ] - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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