Electrically detected magnetic resonance of two-dimensional electron gases in Si/SiGe heterostructures (1999)
- Authors:
- Autor USP: GRAEFF, CARLOS FREDERICO DE OLIVEIRA - FFCLRP
- Unidade: FFCLRP
- DOI: 10.1103/physrevb.59.13242
- Assunto: RESSONÂNCIA MAGNÉTICA NUCLEAR
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher place: College Park
- Date published: 1999
- Source:
- Título do periódico: Physical Review B
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 59, n. 20, p. 13242-13250, 1999
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
GRAEFF, Carlos Frederico de Oliveira et al. Electrically detected magnetic resonance of two-dimensional electron gases in Si/SiGe heterostructures. Physical Review B, v. 59, n. 20, p. 13242-13250, 1999Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1103/physrevb.59.13242. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Graeff, C. F. de O., Brandt, M. S., Sutzmann, M., Holzmann, M., Abstreiter, G., & Schäffler, F. (1999). Electrically detected magnetic resonance of two-dimensional electron gases in Si/SiGe heterostructures. Physical Review B, 59( 20), 13242-13250. doi:10.1103/physrevb.59.13242 -
NLM
Graeff CF de O, Brandt MS, Sutzmann M, Holzmann M, Abstreiter G, Schäffler F. Electrically detected magnetic resonance of two-dimensional electron gases in Si/SiGe heterostructures [Internet]. Physical Review B. 1999 ; 59( 20): 13242-13250.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.59.13242 -
Vancouver
Graeff CF de O, Brandt MS, Sutzmann M, Holzmann M, Abstreiter G, Schäffler F. Electrically detected magnetic resonance of two-dimensional electron gases in Si/SiGe heterostructures [Internet]. Physical Review B. 1999 ; 59( 20): 13242-13250.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1103/physrevb.59.13242 - Ressonãncia de spin eletrônico de condução detectada eletricamente em heteroestruturas de Si/'Si ind 0.7' 'Ge ind.0.3'
- Preparação e caracterização de eletrodos de óxidos cerâmicos contendo Ir'O IND.2'/Mn'O IND.2'
- Spin-dependent transport in si thin-film transistors
- Evaluation of the EPR method as a quantitative assay of no quantitation
- Spin dependent transport and recombination in organic light emitting diodes
- Optical excitation of paramagnetic nitrogen in chemical vapor deposited diamond
- Characterization of textured polycrystalline diamond by electron spin resonance spectroscopy
- Collaborations and new trends in education, science and technology as a means of development
- Software para o interfaceamento de um espectrofotômetro BECKMAN
- Análise microestrutural por difração de raio-x da mistura binária IRO2/MNO2 em diferentes composições
Informações sobre o DOI: 10.1103/physrevb.59.13242 (Fonte: oaDOI API)
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
