Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise (2000)
- Autores:
- Autores USP: CATTANI, MAURO SERGIO DORSA - IF ; SALVADORI, MARIA CECILIA BARBOSA DA S - IF
- Unidade: IF
- DOI: 10.1016/s0040-6090(00)01400-0
- Assunto: FÍSICA DO ESTADO SÓLIDO
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Thin Solid Films
- ISSN: 0040-6090
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 376, n. 1-2, p. 264-266, 2000
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
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ABNT
CATTANI, Mauro Sérgio Dorsa e SALVADORI, Maria Cecília Barbosa da Silveira. Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise. Thin Solid Films, v. 376, n. 1-2, p. 264-266, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(00)01400-0. Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Cattani, M. S. D., & Salvadori, M. C. B. da S. (2000). Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise. Thin Solid Films, 376( 1-2), 264-266. doi:10.1016/s0040-6090(00)01400-0 -
NLM
Cattani MSD, Salvadori MCB da S. Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise [Internet]. Thin Solid Films. 2000 ; 376( 1-2): 264-266.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(00)01400-0 -
Vancouver
Cattani MSD, Salvadori MCB da S. Critical exponents of diamond films: possible influence of spatially correlated noise [Internet]. Thin Solid Films. 2000 ; 376( 1-2): 264-266.[citado 2024 abr. 23 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0040-6090(00)01400-0 - Critical exponent measurement of poor quality diamond films
- Dynamic scaling phenomena in diamond film growth
- Metal ion mixing in diamond
- Estudo e fabricação de microbocais sônicos de diamante
- Nanostructured metallic thin films: measurement of critical exponents
- Young modulus measurements of nanostructured palladium thin films
- Nanostructured gold thin films: young modulus measurement
- Young modulus measurement of nanostructured metallic thin films
- Contribution of the morphological grain sizes to the electrical resistivity of platinum and gold thin films
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Informações sobre o DOI: 10.1016/s0040-6090(00)01400-0 (Fonte: oaDOI API)
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