In-rich InAs(001) surfaces: an ab initio study (2003)
- Authors:
- Autor USP: FERRAZ, ARMANDO CORBANI - IF
- Unidade: IF
- Subjects: SUPERFÍCIE FÍSICA; DIFRAÇÃO POR RAIOS X
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Publisher: Elsevier Science
- Publisher place: Amsterdam
- Date published: 2003
- Source:
- Título do periódico: Book of Abstracts
- Volume/Número/Paginação/Ano: Amsterdam : Elsevier Science, 2003
- Conference titles: European Conference on Surface Science
-
ABNT
MIWA, R H e MIOTTO, R e FERRAZ, A. C. In-rich InAs(001) surfaces: an ab initio study. 2003, Anais.. Amsterdam: Elsevier Science, 2003. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Miwa, R. H., Miotto, R., & Ferraz, A. C. (2003). In-rich InAs(001) surfaces: an ab initio study. In Book of Abstracts. Amsterdam: Elsevier Science. -
NLM
Miwa RH, Miotto R, Ferraz AC. In-rich InAs(001) surfaces: an ab initio study. Book of Abstracts. 2003 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Miwa RH, Miotto R, Ferraz AC. In-rich InAs(001) surfaces: an ab initio study. Book of Abstracts. 2003 ;[citado 2024 abr. 19 ] - Atomic geometries of iii-v compound semiconductor surfaces by total energy and force methods
- Interface geometry of ' ('ga''as') IND.N'' ('in''as') IND.N' and ' ('ga'P) IND.N'' ('in'P) IND.N' ultra-thin superlattices
- Electronic properties and stability of [001] 'GA''AS' / 'IN''AS', 'GA'p / 'IN'p,'GA IND.1-X''IN IND.X''AS' / 'GA''AS' ('IN''AS') and 'GA IND.1-X''IN IND.X'p / 'GA'p ('IN'p)
- Entalpia de formacao e estrutura eletronica de super-redes ultrafinas de iii-v / iv
- Estudo de pseudopotenciais de primeiros principios e sua aplicacao em semicondutores ii-vi
- Estados eletronicos e estrutura atomica da interface znse / znte (001)
- Estudo teorico da acao surfactante do 'TE' no crescimento de 'IN''AS': 'GA''AS'
- Ab initio study of the GaAs(001)-In(4 X 2) surface
- Oxygen adsorption on CdTe(110)
- Role of generalized-gradient approximation in structural and electronic properties of bulk and surface of 'BETA'-GaN and GaAs
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
