Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure (2003)
- Autores:
- Autor USP: JARDIM, RENATO DE FIGUEIREDO - IF
- Unidade: IF
- Assunto: FILMES FINOS
- Idioma: Inglês
- Imprenta:
- Fonte:
- Título do periódico: Resumos
- Nome do evento: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada 26
-
ABNT
ESCOTE, M T et al. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. 2003, Anais.. São Paulo: SBF, 2003. . Acesso em: 26 abr. 2024. -
APA
Escote, M. T., Pontes, F. M., Leite, E. R., Longo, E., & Jardim, R. F. (2003). Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. In Resumos. São Paulo: SBF. -
NLM
Escote MT, Pontes FM, Leite ER, Longo E, Jardim RF. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 26 ] -
Vancouver
Escote MT, Pontes FM, Leite ER, Longo E, Jardim RF. Structural and electrical properties of PZT thin films after annealing under oxygen pressure. Resumos. 2003 ;[citado 2024 abr. 26 ] - Phonon meam free path evaluation in high tc oxides
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