Characterization of indium-tin-oxide films treated by different procedures: effect of treatment time in aqua regia solution (2004)
- Authors:
- USP affiliated authors: SILVA, MARCELO DE ASSUMPCAO PEREIRA DA - IFSC ; BALOGH, DEBORA TEREZIA - IFSC ; FARIA, ROBERTO MENDONCA - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/j.msec.2004.08.003
- Subjects: FILMES FINOS; POLÍMEROS (MATERIAIS)
- Language: Inglês
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Materials Science and Engineering C
- ISSN: 0928-4931
- Volume/Número/Paginação/Ano: v. 24, n. 5, p. 595-599, Nov. 2004
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
BIANCHI, R. F. et al. Characterization of indium-tin-oxide films treated by different procedures: effect of treatment time in aqua regia solution. Materials Science and Engineering C, v. No 2004, n. 5, p. 595-599, 2004Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.msec.2004.08.003. Acesso em: 01 maio 2024. -
APA
Bianchi, R. F., Carvalho, A. J. F., Silva, M. de A. P. da, Balogh, D. T., & Faria, R. M. (2004). Characterization of indium-tin-oxide films treated by different procedures: effect of treatment time in aqua regia solution. Materials Science and Engineering C, No 2004( 5), 595-599. doi:10.1016/j.msec.2004.08.003 -
NLM
Bianchi RF, Carvalho AJF, Silva M de AP da, Balogh DT, Faria RM. Characterization of indium-tin-oxide films treated by different procedures: effect of treatment time in aqua regia solution [Internet]. Materials Science and Engineering C. 2004 ; No 2004( 5): 595-599.[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.msec.2004.08.003 -
Vancouver
Bianchi RF, Carvalho AJF, Silva M de AP da, Balogh DT, Faria RM. Characterization of indium-tin-oxide films treated by different procedures: effect of treatment time in aqua regia solution [Internet]. Materials Science and Engineering C. 2004 ; No 2004( 5): 595-599.[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.msec.2004.08.003 - Analysis of polyaniline films using Atomic Force Microscopy
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Informações sobre o DOI: 10.1016/j.msec.2004.08.003 (Fonte: oaDOI API)
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