Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica (2014)
- Authors:
- Autor USP: VALENCIA, CAROLINA ELISA GUILLEN - IFSC
- Unidade: IFSC
- Sigla do Departamento: FCM
- Subjects: FILMES FINOS; PROCESSAMENTO DE IMAGENS; POLÍMEROS (MATERIAIS); MICROSCOPIA
- Keywords: Análise de imagens; Atomic force microscopy (AFM); Filmes finos copolímeros SEBS; Image analysis; Microscopia de forca atómica (AFM); SEBS thin film polymers
- Language: Português
- Abstract: Neste trabalho, se pretende caracterizar a morfologia de filmes finos poliméricos por meio de técnicas de processamento de imagens, utilizando principalmente a geometria computacional e técnicas de classificação de padrões. Os objetivos principais foram quantificar as grandezas geométricas das estruturas observadas nos filmes finos e descrever padrões de supefície formados nestes filmes. Foram estudadas imagens obtidas por microscopia de força atômica (AFM) de amostras de filmes finos SEBS [poliestireno-poli(etileno-co-butileno)-poliestireno], depositados sobre um substrato de mica por técnicas de imersão. Os filmes finos SEBS são considerados de grande interesse devido à formação de estruturas auto-organizadas na escala nanométrica. A caracterização e a obtenção da morfometria dos filmes são de relevância neste trabalho, pois contribuem para o entendimento da dinâmica de formaçâo destes padrões nas nanoestruturas estudadas. Foram analisadas diferentes morfologias, como forma de gotículas com anéis concêntricos e forma de tiras e pontos regularmente espaçados. Os resultados obtidos permitem caracterizar os padrões observados
- Imprenta:
- Publisher place: São Carlos
- Date published: 2014
- Data da defesa: 04.04.2014
-
ABNT
VALENCIA, Carolina Elisa Guillen. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica. 2014. Dissertação (Mestrado) – Universidade de São Paulo, São Carlos, 2014. Disponível em: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/. Acesso em: 29 mar. 2024. -
APA
Valencia, C. E. G. (2014). Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica (Dissertação (Mestrado). Universidade de São Paulo, São Carlos. Recuperado de http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/ -
NLM
Valencia CEG. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;[citado 2024 mar. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/ -
Vancouver
Valencia CEG. Sistema de analise de imagens SEBS por microscopia de força atômica [Internet]. 2014 ;[citado 2024 mar. 29 ] Available from: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/76/76132/tde-05062014-092420/
How to cite
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas