Liquid junctions for characterization of electronic materials . Ii. Photoreflectance and electroreflectance of n-'SI' (1989)
- Authors:
- Autor USP: FANTINI, MARCIA CARVALHO DE ABREU - IF
- Unidade: IF
- Assunto: CRISTALOGRAFIA
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Journal of Applied Physics
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.66, n.4 , p.1759-64, 1989
-
ABNT
SHEN, W M et al. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Ii. Photoreflectance and electroreflectance of n-'SI'. Journal of Applied Physics, v. 66, n. 4 , p. 1759-64, 1989Tradução . . Acesso em: 18 abr. 2024. -
APA
Shen, W. M., Fantini, M. C. de A., Tomkiewicz, M., & Gambino, J. P. (1989). Liquid junctions for characterization of electronic materials . Ii. Photoreflectance and electroreflectance of n-'SI'. Journal of Applied Physics, 66( 4 ), 1759-64. -
NLM
Shen WM, Fantini MC de A, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Ii. Photoreflectance and electroreflectance of n-'SI'. Journal of Applied Physics. 1989 ;66( 4 ): 1759-64.[citado 2024 abr. 18 ] -
Vancouver
Shen WM, Fantini MC de A, Tomkiewicz M, Gambino JP. Liquid junctions for characterization of electronic materials . Ii. Photoreflectance and electroreflectance of n-'SI'. Journal of Applied Physics. 1989 ;66( 4 ): 1759-64.[citado 2024 abr. 18 ] - Liquid junctions for characterization of electronic materials . Iv. Impendance spectroscopy of reactive ion etched 'SI'
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