Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores (1990)
- Autor:
- Autor USP: FERNANDEZ, FRANCISCO JAVIER RAMIREZ - EP
- Unidade: EP
- Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA (CONFIABILIDADE); SEMICONDUTORES
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1990
- Source:
- Título do periódico: Anais
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais
-
ABNT
RAMÍREZ FERNANDEZ, Francisco Javier. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. 1990, Anais.. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990. . Acesso em: 23 abr. 2024. -
APA
Ramírez Fernandez, F. J. (1990). Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. In Anais. São Paulo: Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar. -
NLM
Ramírez Fernandez FJ. Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores. Anais. 1990 ;[citado 2024 abr. 23 ] -
Vancouver
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