Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements (1993)
- Authors:
- USP affiliated authors: BASMAJI, PIERRE - IFSC ; BAGNATO, VANDERLEI SALVADOR - IFSC
- Unidade: IFSC
- DOI: 10.1016/0040-6090(93)90074-y
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
- Language: Inglês
- Source:
- Título do periódico: Thin Solid Films
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.223, n.1 , p.131-6, 1993
- Este periódico é de assinatura
- Este artigo NÃO é de acesso aberto
- Cor do Acesso Aberto: closed
-
ABNT
BASMAJI, Pierre et al. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, v. 223, n. 1 , p. 131-6, 1993Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y. Acesso em: 26 abr. 2024. -
APA
Basmaji, P., Bagnato, V. S., Grivickas, V., Surdutovich, G. I., & Vitlina, R. (1993). Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements. Thin Solid Films, 223( 1 ), 131-6. doi:10.1016/0040-6090(93)90074-y -
NLM
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y -
Vancouver
Basmaji P, Bagnato VS, Grivickas V, Surdutovich GI, Vitlina R. Determination of porous silicon film parameters by polarized light reflectance measurements [Internet]. Thin Solid Films. 1993 ;223( 1 ): 131-6.[citado 2024 abr. 26 ] Available from: https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90074-y - Polarized light reflectance measurements of the porous films parameters
- Method of determination of optical anisotropy in presence of a strong scattering
- Photoluminescence and optical anisotropy of a porous silicon
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Informações sobre o DOI: 10.1016/0040-6090(93)90074-y (Fonte: oaDOI API)
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