Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: MASCARENHAS, YVONNE PRIMERANO - IFQSC ; BASSO, HEITOR CURY - IFQSC
- Unidade: IFQSC
- Subjects: FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA (PROPRIEDADES ELÉTRICAS)
- Language: Português
- Imprenta:
- Publisher: Sociedade Brasileira de Fisica
- Publisher place: São Paulo
- Date published: 1994
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada
-
ABNT
FERRAZ, M C e BASSO, Heitor Cury e MASCARENHAS, Yvonne Primerano. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores. 1994, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica, 1994. . Acesso em: 24 abr. 2024. -
APA
Ferraz, M. C., Basso, H. C., & Mascarenhas, Y. P. (1994). Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Fisica. -
NLM
Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 24 ] -
Vancouver
Ferraz MC, Basso HC, Mascarenhas YP. Caracterizacao de materiais de interesse tecnologico utilizando-se raios-x: supercondutores. Resumos. 1994 ;[citado 2024 abr. 24 ] - Método de Rietveld aplicado ao estudo da reação de formação do 'Y IND. 2''BA''CU''O IND. 5'
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