Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro (1994)
- Authors:
- USP affiliated authors: BOODTS, JULIEN FRANCOISE COLETA - FFCLRP ; AEGERTER, MICHEL ANDRE - IFSC
- Unidades: FFCLRP; IFSC
- Assunto: MATÉRIA CONDENSADA
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Ceramica
- Volume/Número/Paginação/Ano: v.40, n.265, p.58, abr./jun. 1994
- Conference titles: Congresso Brasileiro de Ceramica
-
ABNT
ALVES, V A et al. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 19 abr. 2024. , 1994 -
APA
Alves, V. A., Silva, L. A., Boodts, J. F. C., Trasatti, S., & Aegerter, M. A. (1994). Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Ceramica. São Paulo: Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto, Universidade de São Paulo. -
NLM
Alves VA, Silva LA, Boodts JFC, Trasatti S, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Ceramica. 1994 ;40( abr./ju 1994): 58.[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Alves VA, Silva LA, Boodts JFC, Trasatti S, Aegerter MA. Estudo comparativo por microscopia eletronica de varredura da superficie de eletrodos de composicao 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''CE IND.X''O IND.2' antes e apos serem submetidos as reacoes de oxigenio e cloro. Ceramica. 1994 ;40( abr./ju 1994): 58.[citado 2024 abr. 19 ] - Influencia da textura da ceramica 'IR IND.0,3''TI IND. (0,7-X)''PT IND.X''O IND.2' na reacao de desprendimento de oxigenio
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