Tecnicas de medidas de espessura de filmes finos (1995)
- Authors:
- Autor USP: VERDONCK, PATRICK BERNARD - EP
- Unidade: EP
- Assunto: CIRCUITOS INTEGRADOS
- Language: Português
- Imprenta:
- Source:
- Título do periódico: Resumos
- Conference titles: Simpósio de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo
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ABNT
MACHADO, D V e VERDONCK, Patrick Bernard. Tecnicas de medidas de espessura de filmes finos. 1995, Anais.. Sao Paulo: Usp, 1995. . Acesso em: 19 abr. 2024. -
APA
Machado, D. V., & Verdonck, P. B. (1995). Tecnicas de medidas de espessura de filmes finos. In Resumos. Sao Paulo: Usp. -
NLM
Machado DV, Verdonck PB. Tecnicas de medidas de espessura de filmes finos. Resumos. 1995 ;[citado 2024 abr. 19 ] -
Vancouver
Machado DV, Verdonck PB. Tecnicas de medidas de espessura de filmes finos. Resumos. 1995 ;[citado 2024 abr. 19 ] - Desenvolvimento de um processo de corrosao de aluminio por plasma de cc14+n2
- Development and characterization of 'SI IND.3''N IND.4' plasma etching processes
- Estudo da impedancia do plasma num processo de corrosao
- The influence of electrode material on argon plasmas
- Study of power balance in electronegative capacitively coupled plasmas
- Laser enhanced polymer etching in different ambients
- Aluminium etching with CC14-N2 plasma
- Characterization of SF6 plasmas by RF electrical measurements
- Projeto e construcao de um equipamento para corrosao de aluminio por plasma
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